考题
伪像产生的原因很多，错误的是A．反射和折射B．混响C．仪器和探头品质差D．操作者的技术因素：DCG、聚焦调节不当等E．声衰减
考题
声像图伪像产生与以下何种因素无关A、反射、折射如混响、侧边声影B、声束宽度或断层厚度C、声衰减因素D、仪器操作者技术因素E、超声的功率大小
考题
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为A．多途径伪像B．旁瓣伪像C．混响伪像D．散射伪像E．折射伪像
考题
由超声多次反射而引起的伪像叫 ( )A、切面厚度伪像B、混响C、声影D、旁瓣伪像E、折射伪像
考题
混响伪像产生的原因与下列哪一项有关()。A.超声波的反射B.超声波的折射C.超声波的反射和折射D.超声的衰减E.图像分辨力降低
考题
声能量在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为A、镜面伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、棱镜伪像E、折射伪像
考题
声像图伪像产生的原因不包括A、反射、折射B、衰减C、仪器设备D、气温E、操作者技术因素
考题
声能量在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为A.镜面伪像
B.旁瓣伪像
C.混响伪像
D.棱镜伪像
E.折射伪像
考题
由超声多次反射而引起的伪像叫（）.A、折射声影B、混响C、声影D、旁瓣伪像
考题
超声脉冲在界面和探头之间往返两次以上产生的伪像称为A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、镜面伪像D、混响伪像E、折射伪像
考题
假象产生的主要原因是由于（）。A、反射B、折射C、混响D、消退E、散射
考题
混响伪像产生的原因与下列哪一项有关（）A、超声波的反射B、超声波的折射C、超声波的反射和折射D、超声的衰减E、图像分辨率降低
考题
下面哪种伪像是由于前方有强吸收或反射区而形成的（）。A、混响B、声影C、折射伪像D、旁瓣伪像
考题
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（）A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、散射伪像E、折射伪像
考题
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（）。A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、散射伪像E、切面厚度伪像
考题
混响伪像产生的原因与下列哪一项有关（）。A、超声波的反射B、超声波的折射C、声束宽度D、超声衰减E、图像分辨力低
考题
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（ ）A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、散射伪像E、双重反射伪像
考题
单选题声像图伪像产生的原因不包括（）A
反射、折射B
衰减C
仪器设备D
气温E
操作者技术因素
考题
单选题超声脉冲在界面和探头之间往返两次以上产生的伪像称为A
多途径伪像B
旁瓣伪像C
镜面伪像D
混响伪像E
折射伪像
考题
单选题脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（ ）A
多途径伪像B
旁瓣伪像C
混响伪像D
散射伪像E
双重反射伪像
考题
单选题由超声多次反射而引起的伪像叫（）。A
切面厚度伪像B
混响C
声影D
旁瓣伪像E
折射伪像
考题
单选题伪像产生的原因很多，错误的是（ ）。A
反射和折射B
混响C
仪器和探头品质差D
操作者的技术因素：DCG、聚焦调节不当等E
声衰减
考题
单选题下面哪种伪像是由于前方有强吸收或反射区而形成的（）。A
混响B
声影C
折射伪像D
旁瓣伪像
考题
单选题混响伪像产生的原因与下列哪一项有关（）。A
超声波的反射B
超声波的折射C
声束宽度D
超声衰减E
图像分辨力低
考题
单选题脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（ ）。A
多途径伪像B
旁瓣伪像C
混响伪像D
散射伪像E
折射伪像
考题
单选题脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（）。A
多途径伪像B
旁瓣伪像C
混响伪像D
散射伪像E
切面厚度伪像
考题
单选题伪像产生的主要原因不包括（ ）。A
反射B
混响C
折射D
衰减E
散射
考题
单选题由超声多次反射而引起的伪像叫（）.A
折射声影B
混响C
声影D
旁瓣伪像