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名词解释题
光激励发光

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考题 CR中的噪声不包括A、X线量子噪声B、光激励发光噪声C、成像板结构噪声D、增感屏结构噪声E、电子噪声
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考题 DR的种类中不包括A、直接型B、间接型C、多丝正比电离室型D、CCD型E、光激励发光型
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考题 IP的潜影被激光扫描时，以何种光的形式释放出储存的能量()。A.红色激光B.X线C.蓝色的光激励发光D.γ射线E.α射线
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考题 CR成像板结构不包括：A.表面保护层B.光激励发光层C.基板D.反射层E.背面保护层
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考题 下列称谓中与CR不相干的是（）A、计算机X线摄影B、存储荧光体数字X线摄影C、数字发光X线摄影D、光激励发光X线摄影E、直接数字X线摄影
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考题 限制CR影像读取时间的主要因素是（）A、光激励发光强度B、光激励发光方向C、光激励发光的衰减时间D、信号增幅放大程度E、模数转换器工作效率
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考题 IP的潜影被激光扫描时，以何种光的形式释放出储存的能量（）A、红色激光B、X线C、蓝色的光激励发光D、γ射线E、α射线
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考题 CR系统中PSL的含义是（）A、辉尽性荧光物质B、光激励发光C、光发光D、发光体E、被照体
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考题 光激励发光
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考题 CR中光激励发光的波长为（）A、100～200nmB、390～490nmC、290～390nmD、200～300nmE、190～290nm
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考题 远端机光模块故障时，近端机自检时液晶显示的状态是（）。A、发光故障、收光故障B、发光正常、收光正常C、发光故障、收光正常D、发光正常、收光故障
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考题 单选题CR系统中PSL的含义是（）A 辉尽性荧光物质B 光激励发光C 光发光D 发光体E 被照体
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考题 单选题远端机光模块故障时，近端机自检时液晶显示的状态是（）。A 发光故障、收光故障B 发光正常、收光正常C 发光故障、收光正常D 发光正常、收光故障
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考题 单选题IP的组成不包括（　　）。A 防光晕层B 基板C 光激励发光物质层D 表面保护层E 背面保护层
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考题 单选题IP的潜影被激光扫描时，以何种光的形式释放出储存的能量（）A 红色激光B X线C 蓝色的光激励发光D γ射线E α射线
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考题 单选题关于CR的成像原理，错误的是（　　）。A X线照射到成像板的光激励荧光体时，其晶体结构中“陷阱”部位吸收并存储了X线能量B 在光激励发光过程中，荧光体在附加的适当波长的激光能量的激励下，将俘获的能量释放出来C 成像板上涂有一层“光激励存储荧光体”，选用的材料必须具有“光激励发光”的特性D 曝光后的成像板由于吸收X线而发生电离，在光激励荧光体的晶体中产生电子/空穴对E 曝光后的成像板在阅读器内，必须用高能量、高度聚焦的激光扫描
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考题 单选题CR中的噪声不包括（）A X线量子噪声B 光激励发光噪声C 成像板结构噪声D 增感屏结构噪声E 电子噪声
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考题 单选题关于CR图像的生成，不正确的是（　　）。A 成像板上涂有一层光激励存储荧光体，选用的材料不具有“光激励发光”的特性B 微量的Eu2＋混杂物加在光激励荧光体中，以改变它的结构和物理特性C 曝光后的成像板在阅读器内，经过用低能量高度聚焦和放大的红色激光扫描D 最常用的激光是He-Ne激光和“二极管”激光，光激励发光波长为390～490nmE 影像读取完成后，IP的影像数据可通过施加强光照射来消除
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考题 单选题限制CR影像读取时间的主要因素是（）A 光激励发光强度B 光激励发光方向C 光激励发光的衰减时间D 信号增幅放大程度E 模数转换器工作效率
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考题 单选题关于光激励发光效应的叙述，不正确的是（　　）。A 把储存的高能射线通过光激励后以可见光的形式释放B 它是在19世纪中期开始使用的C 1895年伦琴发现X线，使用了光激励效应D 储存荧光体技术比CR的历史长E 通过全野或局域激励的方法，把不可见空间影像转换为可见状态
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考题 单选题下列称谓中与CR不相干的是（）A 计算机X线摄影B 存储荧光体数字X线摄影C 数字发光X线摄影D 光激励发光X线摄影E 直接数字X线摄影
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