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单选题
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。
A
JTAG技术是一种嵌入式测试技术
B
大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口
C
多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试
D
通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
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解析：
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考题
开发嵌入式系统时，需要构建一个宿主机-目标机的开发环境。若目标机是裸机，那么为了调试和下载软件需要将调试仿真器连接到目标机的哪一种接口？（）。A.SPI接口B.以太网接口C.JTAG接口D.USB接口
考题
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A.JTAG技术是一种嵌入式测试技术B.大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
考题
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A.JTAG技术为ARM公司专用，非ARM处理器不采用JTAG技术B.通过JTAG测试接口可对嵌入式处理器芯片进行测试、对系统进行仿真、调试C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
考题
以下叙述中错误的是(40) 。A.实时系统就是响应快的系统B.JTAG主要用于芯片内部测试及系统调试C.嵌入式系统在开发过程中，下载bootloader可以采用Jtag接口D.触摸屏是一种输入输出设备
考题
JTAG是用来进行嵌入式处理器调试的标准化接口，下列描述中，正确的是______。A.JTAG接口上一般包括模式选择、时钟、数据输入、数据输出、复位等信号
B.当JTAG接口上面的时钟不正常时，也可以访问CPU内部的寄存器
C.JTAG只能用于调试，而不能用于进行芯片问题的检测
D.JTAG能够访问CPU内部的寄存器，而不能访问CPU总线上面的设备
考题
下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是（）A、边界扫描技术是调试硬件芯片及目标机电路板的一种常用调试技术。B、JTAG组织所研究的测试访问端口和边界扫描结构标准，成为了片上测试技术的一种国际标准，即俗称的JTAG标准。C、使用片上调试技术进行嵌入式系统目标机调试时，无需目标存储器，也不占用目标机任何I/O端口。D、经常用于嵌入式系统设计中的微处理器（如：MCS-51、DSP、ARM）都支持JTAG标准的片上调试技术
考题
JTAG的引脚TCK的主要功能是（）A、 测试时钟输入；B、 测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；C、 测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；D、 测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
考题
开发嵌入式系统时，需要构建一个宿主机-目标机的开发环境。若目标机是裸机，那么为了调试和下载软件需要将调试仿真器连接到目标机的哪一种接口？（）。A、SPI接口B、以太网接口C、JTAG接口D、USB接口
考题
下面关于ARM公司定义的AMBA的叙述中，错误的是（）A、AMBA由系统总线和外围总线组成，二者之间通过桥接器交换信息B、ARM芯片中的ARM内核与AMBA的系统总线相连C、ARM芯片中的测试接口（如JTAG）与AMBA的外围总线相连D、ARM7和ARM11采用的AMBA的版本不同
考题
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A、JTAG技术是一种嵌入式测试技术B、大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口C、多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D、通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
考题
单选题JTAG的引脚TCK的主要功能是（）A
测试时钟输入；B
测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；C
测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；D
测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
考题
单选题下面关于ARM公司定义的AMBA的叙述中，错误的是（）A
AMBA由系统总线和外围总线组成，二者之间通过桥接器交换信息B
ARM芯片中的ARM内核与AMBA的系统总线相连C
ARM芯片中的测试接口（如JTAG）与AMBA的外围总线相连D
ARM7和ARM11采用的AMBA的版本不同
考题
单选题下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是（）A
边界扫描技术是调试硬件芯片及目标机电路板的一种常用调试技术。B
JTAG组织所研究的测试访问端口和边界扫描结构标准，成为了片上测试技术的一种国际标准，即俗称的JTAG标准。C
使用片上调试技术进行嵌入式系统目标机调试时，无需目标存储器，也不占用目标机任何I/O端口。D
经常用于嵌入式系统设计中的微处理器（如：MCS-51、DSP、ARM）都支持JTAG标准的片上调试技术
考题
判断题JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。A
对B
错
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