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单选题
高能x射线或γ射线透照，若需要增感时，一般应选用（）。
A

荧光增感

B

铅箔增感

C

金属荧光增感

D

以上均可

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考题 DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）
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考题 宽束X射线透照工件时，若入射线强度为I0，未散射的射线强度为I，散射线的强度为IS，则散射比的定义为（）。
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考题 用铅箔做增感屏时，若X射线管电压太高，会产生磷光现象。
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考题 当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。
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考题 高能X射线照射到物质上以后，一般会出现以下哪几种X射线（）A、荧光X射线B、散射X射线C、衍射X射线D、透过X射线
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考题 在高能射线照相中，增感屏的增感作用主要靠前屏。
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考题 当选用50KV的管电压进行X射线探伤时，应采用何种增感屏？（）A、荧光增感屏B、无需增感屏C、铅箔增感屏D、金属荧光增感屏
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考题 高能x射线或γ射线透照，若需要增感时，一般应选用（）。A、荧光增感B、铅箔增感C、金属荧光增感D、以上均可
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考题 使用γ射线或高能X射线透照厚工件时，胶片类型和胶片黑度的选择十分重要。
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考题 宽束X射线透照工件时，若入射线强度为Io，未散射的射线强度为I，散射线的强度为Is,则散射比的定义为Io/Is
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考题 高能射线是能量在（）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（）、（）、（）等特点。
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考题 宽束X射线透照工件时，若入射线强度为Io，未散射的射线强度为I，散射线的强度为Is，则散射比的定义为（）。A、 Io/IsB、 I/IsC、 Is/ID、 Io/I
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考题 与低能射线透照相比，高能射线透照具有的特点（）。A、 宽容度大B、 对比度较高C、 感光速度快D、 散射线影响大
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考题 使用γ射线或高能Χ射线透照厚工件时，胶片类型和胶片（）的选择十分重要。A、黑度B、价格C、重量D、以上都不对
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考题 在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。
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考题 填空题在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。
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考题 多选题高能X射线照射到物质上以后，一般会出现以下哪几种X射线（）A荧光X射线B散射X射线C衍射X射线D透过X射线
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考题 单选题与低能射线透照相比，高能射线透照具有的特点（）。A 宽容度大B 对比度较高C 感光速度快D 散射线影响大
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考题 判断题DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）A 对B 错
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考题 单选题硅晶体半导体探测器主要用于测量（）的相对剂量。A 高能X（γ）射线与低能X射线B 高能X（γ）射线与电子束C 低能X射线与电子束D 高能X射线E 低能X射线
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考题 判断题透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，不可选用有利于发现缺陷的方向透照。A 对B 错
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考题 单选题当选用50KV的管电压进行X射线探伤时，应采用何种增感屏？（）A 荧光增感屏B 无需增感屏C 铅箔增感屏D 金属荧光增感屏
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