考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
考题
近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A、后乳化渗透法B、着色渗透法C、可水洗型荧光渗透法D、以上方法均不能探测近表面的缺陷
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
超声波探伤只能检查出部件表面的缺陷，探测不出部件内部深处的缺陷。
考题
按照“右手定则”，工件表面的纵向缺陷，可以通入平行于缺陷方向的电流检测出来。这是因为（）A、电流方向与缺陷一致；B、磁场与缺陷垂直；C、怎么通电都一样；D、磁场平行于缺陷
考题
近探测面的缺陷不是总能检出来，因为（）A、近场效应B、衰减C、检测系统的回复时间D、折射
考题
焊缝表面的纵向裂纹，可以用平行于缺陷方向的电流将其检测出来。这是因为（）。A、电流方向与缺陷方向一致B、磁场方向与缺陷垂直C、磁场平行于缺陷方向D、形成的磁感应强度大
考题
用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是
考题
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷
考题
磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
考题
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
考题
横波斜角检测，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，起原因是（）A、远场效应B、受分辨率影响C、盲区D、受反射波影响
考题
垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的（）A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度D、A和B
考题
垂直法探伤所定的缺陷深度，也就是缺陷至探测面的垂直距离.
考题
垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷（）A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度
考题
单选题焊缝表面的纵向裂纹，可以用平行于缺陷方向的电流将其检测出来。这是因为（）。A
电流方向与缺陷方向一致B
磁场方向与缺陷垂直C
磁场平行于缺陷方向D
形成的磁感应强度大
考题
多选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷（）A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度
考题
单选题按照“右手定则”，工件表面的纵向缺陷，可以通入平行于缺陷方向的电流检测出来。这是因为（）A
电流方向与缺陷一致B
磁场与缺陷垂直C
怎么通电都一样D
磁场平行于缺陷
考题
单选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的（）A
声程B
至探测面的垂直距离C
深入探测面的深度D
A和B
考题
填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
考题
单选题磁粉探伤只可以探测船机零件表面和近表面的缺陷，主要是因为（）。A
磁力线无法到达零件内部B
零件内部缺陷所形成的磁场无法溢出零件表面C
零件内部无法形成磁场D
集肤效应
考题
单选题斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A
近场效应B
受分辨力影响C
盲区D
受反射波影响
考题
判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷
考题
单选题分割式探头主要用来（）。A
探测离探伤面远的缺陷B
探测离探伤面近的缺陷C
探测与探伤面平行的缺陷
考题
单选题近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A
后乳化渗透法B
着色渗透法C
可水洗型荧光渗透法D
以上方法均不能探测近表面的缺陷