考题
利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头移动方向应与探头的分割面相垂直。
考题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A、 交叉式B、 V型串列式C、 K型串列式D、 串列式
考题
framesetcols=# 是用来指定（）。A、混合分割B、纵向分割C、横向分割D、任意分割
考题
某探头的种类标识为X，它的种类是用折射角表示的（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
扁錾主要用来錾削平面、去毛刺和（）。A、錾削沟槽B、分割曲线形板料C、錾削曲面上的油槽D、分割板料
考题
当钢板厚度小于4mm时最好采用（）A、分割式探头B、提高探伤灵敏度C、增大晶片直径D、多加耦合机油
考题
内插式线圈探头，专用来检查管子（）或（）内的缺陷，如热交换器管子的在役检验等.
考题
利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
考题
用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面
考题
某探头种类标识为BM，它表示为（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
考题
某探头的种类标识为K，它的种类是用K值表示的（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
考题
由三个或更多的压电晶片组装的探头，常称（）。A、联合双探头B、分割式探头C、组合收发式探头D、阵列式探头
考题
某探头的种类标识为FG，它表示为（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
考题
是用来指定（）。A、混合分割B、纵向分割C、横向分割D、任意分割
考题
单选题某探头种类标识为KB，它表示为（）A
可变角探头B
表面波探头C
分割探头D
水浸探头
考题
单选题由三个或更多的压电晶片组装的探头，常称（）。A
联合双探头B
分割式探头C
组合收发式探头D
阵列式探头
考题
单选题主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A
交叉式B
V型串列式C
K型串列式D
串列式
考题
判断题利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。A
对B
错
考题
单选题某探头的种类标识为X，它的种类是用折射角表示的（）A
直探头B
斜探头C
分割探头D
水浸探头
考题
单选题当钢板厚度小于4mm时最好采用（）A
分割式探头B
提高探伤灵敏度C
增大晶片直径D
多加耦合机油
考题
单选题是用来指定（）。A
混合分割B
纵向分割C
横向分割D
任意分割
考题
单选题某探头的种类标识为K，它的种类是用K值表示的（）A
直探头B
斜探头C
分割探头D
水浸探头
考题
单选题某探头种类标识为SJ，它表示为（）A
直探头B
斜探头C
分割探头D
水浸探头
考题
单选题某探头的种类标识为Z，它表示为（）A
直探头B
斜探头C
分割探头D
水浸探头
考题
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A
单斜探头法B
单直探头法C
双斜探头前后串列法D
分割式双直探头法