考题
对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。()
此题为判断题(对，错)。
考题
锻件的晶粒比较细小，单晶直探头常采用频率2.5MHz~5MHz，双晶直探头常采用频率5MHz。
考题
轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤
考题
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。
考题
饼类锻件最主要探测方向是（）A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
考题
在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A、硬保护膜直探头B、软保护膜直探头C、大尺寸直探头D、高频直探头
考题
筒形锻件最主要探测方向是：（）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是
考题
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
考题
大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是
考题
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
考题
对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。（）
考题
簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
考题
用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。
考题
单选题采用下列何种频率的直探头对不锈钢大锻件进行超声探伤时可获得较好的穿透力？（）A
1.25MHzB
2.5MHzC
5MHzD
10MHz
考题
填空题用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。
考题
单选题筒形锻件最主要探测方向是：（）A
直探头端面和外圆面探伤B
直探头外圆面轴向探伤C
斜探头外圆面轴向探伤D
以上都是
考题
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A
直探头端面探伤B
直探头侧面探伤C
斜探头端面探伤D
斜探头侧面探伤
考题
单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A
轴向直探头探伤B
径向直探头探伤C
斜探头外圆面轴向探伤D
斜探头外圆面周向探伤
考题
判断题对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。A
对B
错
考题
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（）A
侧面反射波带来干涉B
探头太大，无法移至边缘C
频率太高D
以上都不是
考题
判断题直探头在圆柱形轴类锻件外圆探伤时，发现的游动回波都是裂纹回波。A
对B
错
考题
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A
底面与探伤面不平行B
工件内部有倾斜的大缺陷C
工件内部有材质衰减大的部位D
以上都有可能
考题
问答题大锻件为什么通常采用直探头进行超声波检测？
考题
单选题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A
硬保护膜直探头B
软保护膜直探头C
大尺寸直探头D
高频直探头