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单选题
X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。
A
时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量
B
时间阶段曝光法X线质固定
C
自举法用铝梯厚度改变X线强度
D
铝梯下加一层0.5mm厚的铅片
E
存在间歇效应的影响
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解析：
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考题
关于电离室控时自动曝光控制,下列叙述错误的是
A.利用气体的电离效应B.X线强度大时，电离电流大C.X线强度大时，曝光时间长D.电容充电电流与X线曝光量呈反比E.电离电流小时，曝光时间长
考题
X线胶片的感光测定方法,错误的是A.距离法B.密度仪测定法C.感光仪测定法SXB
X线胶片的感光测定方法，错误的是A.距离法B.密度仪测定法C.感光仪测定法D.铝梯定量测定法E.时间阶段曝光法
考题
X线阶段曝光测定法的叙述，错误的是（）。A、时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量B、时间阶段曝光法X线质固定C、自举法用铝梯厚度改变X线强度D、铝梯下加一层0.5mm厚的铅片E、存在间歇效应的影响
考题
单选题关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是（）A
利用气体的电离效应B
X线强度大时，电离电流大C
X线强度大时，曝光时间长D
电容充电电流与X线曝光量成反比E
电离电流小时，曝光时间长
考题
单选题X线胶片的感光测定方法，错误的是（）A
距离法B
密度仪测定法C
感光仪测定法D
铝梯定量测定法E
时间阶段曝光法
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