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关于电离室控时自动曝光控制,下列叙述错误的是

A.利用气体的电离效应

B.X线强度大时,电离电流大

C.X线强度大时,曝光时间长

D.电容充电电流与X线曝光量呈反比

E.电离电流小时,曝光时间长


参考答案

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考题 关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是A、利用气体的电离效应B、X线强度大时,电离电流大C、X线强度大时,曝光时间长D、电容充电电流与X线曝光量成反比E、电离电流小时,曝光时间长

考题 自动曝光控制系统,探测器的种类有A、液体探测器B、液体探测器C、电离室探测器D、晶体探测器E、金属探测器

考题 关于自动曝光控制(AEC)的解释,错误的是A、根据被照体厚薄预先确定曝光量B、有电离室式探测器C、AEC的管电压特性与所用屏/片体系的管电压特性有关D、有半导体式探测器E、探测器的采光野位置应根据摄影部位选择

考题 下列关于自动曝光控制的叙述,错误的是A.可采用荧光体型探测器B.可采用电离室型探测器C.可减少人为条件选择不当的失误D.可自动切断X线的产生E.多在一钮制设备中使用

考题 关于电离室自动曝光控制叙述错误的是A.利用气体的电离效应B.X线强度大时,电离电流大C.X线强度大时,曝光时间短D.电容充电电流与X线曝光量成反比E.电离电流小时,需要的曝光时间长

考题 电离室自动曝光控时利用了A、光电效应B、气体电离C、计时器定时D、康普顿效应E、呼吸同步

考题 自动曝光控制的电离室利用了X线的A.穿透作用B.荧光作用C.生物作用D.电离作用E.感光效应

考题 关于膝关节前后正位成像技术标准的叙述,错误的是A.滤线栅:(-)B.屏-片体系感度:标称感度200C.摄影距离:100~120cmD.自动曝光控制:(+)E.曝光时间:<200ms

考题 关于自动曝光量控制(AEC)的叙述,错误的是A.被照体很薄时,AEC也可立即切断X线B.探测器有电离室式、半导体、荧光体三种C.AEC的管电压特性与所用屏胶体系的管电压特性有关D.探测器置于屏胶体系之前还是之后,效果不一样E.探测器的探测野位置、形状、数量应根据摄影部位选择