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判断题
在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关
A

对

B

错

参考答案

参考解析
解析： 暂无解析
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考题 能够正确发现缺陷大小和形状的探伤方法是（）。A、X射线探伤B、超声波探伤C、磁粉探伤
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