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填空题
常用的粒子径的测定方法有()、()、沉降法、比表面积法、筛分法等。

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考题 有关粉体粒径测定的错误表述是( )。A.库尔特记数法可用于测定混悬剂、乳剂、脂质体的粒径B.沉降法适用于100μm以下的粒子的测定C.筛分法常用于45μm以上的粒子的测定D.用显微镜法测定时,一般需测定200~500个粒子E.沉降法是在液体中进行测定,库尔特记数法是直接在同体状态下进行测定

考题 采用哪种方法可测定粉体比表面积( )A.沉降法B.筛分法C.显微镜法D.库尔特记数法E.气体吸附法

考题 粒子径的测定方法有A、比色法B、显微镜法C、库尔特计数法D、沉降法E、筛分法

考题 粒子径的测定方法( )。A.比色法B.显微镜法C.库尔特记数法D.沉降法E.筛分法

考题 有关粉体粒径测定的正确表述是A.用显微镜法测定时,一般需测定200~500个粒子B.沉降法适用于100μm以下粒子的测定C.筛分法常用于45μm以上粒子的测定D.沉降法和库尔特计数法都是在液体中进行测定E.粉体粒径的测定方法有显微镜法、库尔特计数法、沉降法和筛分法

考题 测定粉体比表面积的方法是() A、显微镜法B、筛分法C、库尔特计数法D、沉降法E、BET法

考题 粒子径的测定方法有A.比色法B.显微镜法C.库尔特记数法D.沉降法E.筛分法

考题 采用哪种方法可测定粉体比表面积( )。A.沉降法B.筛分法C.显微镜法D.库尔特计数法E.气体吸附法

考题 比表面积的常用测定方法( )A、光散射法B、气体吸附法C、气体透过法D、沉降法E、光透过法

考题 如何测定粉体的比表面积( )A、沉降法B、气体吸附法C、筛分法D、显微镜法

考题 下列哪个方法仅用于测定粉体的比表面积( )。A.显微镜法B.库尔特计数法C.沉降法D.筛分法E.气体吸附法

考题 常用的粒子径的测定方法有哪些?

考题 测定粉体粒径的常用方法有A.电感应法B.显微镜法C.筛分法D.沉降法E.水飞法

考题 测定分体粒径的常用方法有A.电感应法B.沉降法C.筛分法D.显微镜法E.水飞法

考题 直接测定粉体比表面积的方法是A:沉降法B:筛分法C:显微镜法D:气体吸附法E:库尔特记数法

考题 有关粉体测定表述不正确的是A:用显微镜法测定时,一般需测定200~500个粒子B:沉降法适用于100μm以下粒子的测定C:筛分法常用于45μm以上粒子的测定D:中国药典的九号筛的孔径大于一号筛的孔径E:工业筛用每1英寸长度上筛孔的数目表示

考题 有关粉体粒径测定的不正确表述是A:用显微镜法测定时,一般需测定300~600个粒子B:沉降法适用于100μm以下粒子的测定C:筛分法常用于45μm以上粒子的测定D:中国药典中的九号筛的孔径大于一号筛的孔径E:工业筛用每一英寸长度上的筛孔数目表示

考题 粒子径的测定方法A:比色法B:显微镜法C:库尔特计数法D:沉降法E:筛分法

考题 有关粉体粒径测定的不正确表述是 A.用显微镜法测定时,一般需测定200?500个粒子 B.沉降法适用于100μm以下粒子的测定 C.筛分法常用于45 μm以上粒子的测定 D.中国药典中的九号筛的孔径大于一号筛的孔径 E.工业筛用每一英寸长度上的筛孔数目表示

考题 测定粉体比表面积可采用的方法是A:沉降法 B:筛分法 C:显微镜法 D:气体吸附法 E:库尔特记数法

考题 常用的粒子径的测定方法有()、()、沉降法、比表面积法、筛分法等。

考题 物体粒子测定的方法有()。A、筛分法B、显微镜法C、库尔特计数法D、沉降法E、过滤法

考题 用沉降法测定的微粉粒子直径又称()A、外接圆径B、长径C、比表面积粒径D、定方向径E、有效粒径

考题 多选题物体粒子测定的方法有()。A筛分法B显微镜法C库尔特计数法D沉降法E过滤法

考题 多选题比表面积的常用测定方法()A光散射法B气体吸附法C气体透过法D沉降法E光透过法

考题 单选题用沉降法测定的微粉粒子直径又称()A 外接圆径B 长径C 比表面积粒径D 定方向径E 有效粒径

考题 单选题如何测定粉体的比表面积()A 沉降法B 气体吸附法C 筛分法D 显微镜法