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单选题
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）
A

主观性颗粒质量--肉眼观察获得的颗粒状况

B

客观性颗粒质量--物理学检查的颗粒状况

C

常用的检测方法有RMS的测量

D

常用的检测方法有维纳频谱的测量

E

MTF用来测量颗粒度

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考题 下列属于主观评价的方法是A.维纳频谱(WS)B.量子检出效率(DQE)C.照片颗粒度均方根值(RMS)D.调制传递函数(MTF)E.观测者操作特性曲线(ROC)
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考题 干式常用分级法是利用微粒的()不同进行颗粒测量。A、粒径B、密度C、质量D、粘度
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考题 关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
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考题 评价X线胶片的影像质量参数有A.颗粒度B.分辨率C.清晰度D.感色性S 评价X线胶片的影像质量参数有A.颗粒度B.分辨率C.清晰度D.感色性E.胶片的MTF
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考题 所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX 所谓X线照片噪声，是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合D.X线照片斑点E.X线照片的颗粒度
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考题 所谓X线照片噪声，是指A、荧光体颗粒B、乳剂银颗粒C、荧光体颗粒组合D、X线照片斑点E、X线照片的颗粒度
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考题 对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度
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考题 关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量了斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
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考题 属于主观评价的方法是A．威钠频谱(WS)B．量子检出效率(DQE)C．照片颗粒度均方根值(RMS)D．调制传递函数(MTF)E．观测者操作特性曲线(ROC)
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考题 对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C．常用的检测方法有RMS的测量D．常用的检测方法有维纳频谱的测量E．MTF用来测量颗粒度
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考题 关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量子斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
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考题 关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A.物理测定值为颗粒度B.X线量子斑点影响照片颗粒性C.X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片E记录
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考题 所谓X线照片噪声，是指A.乳剂银颗粒 B.荧光体颗粒 C.银颗粒、荧光体颗粒组合 D.X线照片的颗粒度 E.X线照片斑点
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考题 下列组合错误的是A.RMS-颗粒性 B.DQE-噪声等价量子数 C.MTF-分辨力 D.WS-维纳频谱 E.ROC-受试者操作特性曲线
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考题 关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A、胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B、胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C、表示颗粒性的量度值为颗粒度D、颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E、颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
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考题 关于照片影像质量客观评价的叙述，错误的是（）。A、以物理量进行的评价为客观评价B、可通过特性曲线进行测试C、MTF是评价像质的好方法D、WS是调制传递函数的缩写E、RMS是照片颗粒度均方根值的缩写
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考题 对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A、主观性颗粒质量--肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量--物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用来测量颗粒度
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考题 所谓X线照片噪声，是指（）A、荧光体颗粒B、乳剂银颗粒C、银颗粒、荧光体颗粒组合D、X线照片斑点E、X线照片的颗粒度
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考题 库尔特颗粒计数器，是一种运用（）方法测量颗粒直径的仪器。A、化学B、电子学C、物理学D、数学
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考题 关于X线照片颗粒度的叙述，正确的是（）.A、照片图像粗糙或砂砾状效果称为颗粒性B、物理测定值为颗粒度C、照片上一定区域内大量集中的不规则的颗粒为斑点D、量子斑点是X线量子的统计涨落的记录E、以上全是
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考题 单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（　　）。A 主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B 客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C 常用的检测方法有RMS的测量D 常用的检测方法有维纳频谱的测量E MTF用来测量颗粒度
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考题 单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A 主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B 客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C 常用的检测方法有RMS的测量D 常用的检测方法有维纳频谱的测量E MTF用米测量颗粒度
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考题 单选题关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A 胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B 胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C 表示颗粒性的量度值为颗粒度D 颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E 颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
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考题 填空题照片颗粒性大小测量法有主、客观测量法。客观法常用的主要有（）颗粒度和（）法。
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考题 问答题同一颗粒由于定义和测量的方法不同，所得到的粒径值也不同，常用的表示粒径的方法主要有哪些。
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考题 单选题关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是（　　）。A 物理测定值为颗粒度B X线量子斑点影响照片颗粒性C X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D 增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E 量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
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考题 单选题属于主观评价的方法是（　　）。A 维纳频谱（WS）B 量子检出效率（DQE）C 照片颗粒度均方根值（RMS）D 调制传递函数（MTF）E 观测者操作特性曲线（ROC）
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考题 单选题所谓X线照片噪声，是指（　　）。A 荧光体颗粒B 乳剂银颗粒C 银颗粒、荧光体颗粒组合D X线照片斑点E X线照片的颗粒度
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