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单选题
有关根分叉病变分度的描述，不正确的是（ ）。
A
I度：可探到根分叉外形，X线片显示无异常表现
B
Ⅱ度：一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片显示骨密度略降低
C
Ⅲ度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X片显示骨密度降低
D
Ⅳ度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片显示骨密度降低
E
V度：探针不能通过分叉区，X线片显示无异常表现
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解析：
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更多 “单选题有关根分叉病变分度的描述，不正确的是（ ）。A I度：可探到根分叉外形，X线片显示无异常表现B Ⅱ度：一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片显示骨密度略降低C Ⅲ度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X片显示骨密度降低D Ⅳ度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片显示骨密度降低E V度：探针不能通过分叉区，X线片显示无异常表现” 相关考题
考题
关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙
考题
下列有关根分叉病变分度的描述中，哪一项不正确A．Ⅰ度：可探及根分叉外形，X线片示无异常表现B．Ⅱ度：只有一侧可探入根分叉区，X线片示骨密度略降低C．Ⅱ度：一侧或双侧可探入根分叉区，但不能穿通，X线片示骨密度略降低D．Ⅲ度：探针能通过根分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区E．Ⅳ度：探针能通过根分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区
考题
关于根分叉病变的描述不正确的是A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查
B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
D.X线片的表现常比实际病变轻
E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
考题
男，60岁。主诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查：牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6mm，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片示：根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分度法，此根分叉病变属于（）。A、Ⅰ度B、Ⅱ度C、Ⅲ度D、Ⅳ度E、正常
考题
男性，60岁，主诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查：左下6牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6m，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片示：根分叉区完全开放。按Clickman根分叉病变分度法，此根分叉病变属于（）A、Ⅰ度B、Ⅱ度C、Ⅲ度D、Ⅳ度E、正常
考题
关于根分叉病变的描述不正确的是（）A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
考题
单选题关于根分叉病变的描述不正确的是（）A
可用普通的弯探针探查B
检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C
检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D
X线片的表现常比实际病变轻E
发生根分叉病变的患牙是松动牙
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