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问答题
以LiF(200)作为分光晶体,检测器从2θ角10°扫描到145°,可测定的X射线光谱波长范围为多少?镁是否能被检测(镁的Kα9.889Å)?

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考题 具有将X射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是()。 A、计数器B、放大器C、分光晶体D、光栅

考题 波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为: A. 2dsinθ = kλ B. dsinθ= kλ C. 2dcosθ= kλ D. dcosθ = kλ

考题 波长为0.168nm (1nm=10-9m)的X射线以入射角θ射向某晶体表面时,在反射方向出现第一级极大,已知晶体的晶格常数为0.168nm,则θ角为( )。 A. 30° B. 45° C. 60° D. 90°

考题 柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装()五块衍射晶体。A、LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1B、LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX2C、LiF(200)、LiF(420)、Ge(111)、PE(002)、PX1D、InSb、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1

考题 测P时用下面哪块晶体进行分光()A、LiF220B、Ge111C、LiF200D、PE002

考题 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤素盐棱镜

考题 管电压为200kVp时,辐射的连续X射线最短波长为多少?若波长为最短波长1.5倍时,连续X射线强度达到最大值,则强度最大时的连续X射线光子能量为多少?

考题 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 X射线荧光光谱仪采用()作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

考题 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤化物棱镜

考题 X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。

考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

考题 利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()A、LiF220B、LiF200C、Ge111D、PE002

考题 波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫()、()和()三种类型。

考题 通常可用来做X射线荧光分光晶体的是()。A、NaFB、NaClC、LiF

考题 X射线荧光光谱仪通常使用哪几种检测器?

考题 具有将x射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是()。A、计数器B、放大器C、分光晶体D、测角仪

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

考题 原子吸收分光光度法测定镁的分析线波长为()。A、213.8nmB、248.3nmC、285.OnmD、279.5nm

考题 以LiF(200)作为分光晶体,检测器从2θ角10°扫描到145°,可测定的X射线光谱波长范围为多少?镁是否能被检测(镁的Kα9.889Å)?

考题 波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为()。A、2dsinθ=kλB、dsinθ=kλC、2dcosθ=kλD、dcosθ=kλ

考题 问答题以LiF(200)作为分光晶体,检测器从2θ角10°扫描到145°,可测定的X射线光谱波长范围为多少?镁是否能被检测(镁的Kα9.889Å)?

考题 单选题(2007)波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:()A 2dsinθ=KλB dsinθ=KλC 2dcosθ=KλD dcosθ=Kλ

考题 问答题X射线的波长范围大致为多少?X射线产生的基本原理及X射线管的基本结构?

考题 单选题已知分光晶体的晶面距为0.598nm,X射线一级衍射峰的2θ=24.86o,此X射线的波长是()A 0.503nmB 0.129nmC 0.251nmD 0.254nm

考题 问答题管电压为200kVp时,辐射的连续X射线最短波长为多少?若波长为最短波长1.5倍时,连续X射线强度达到最大值,则强度最大时的连续X射线光子能量为多少?