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红外热像检测中,对于一般缺陷的相关描述,正确的是()。
(A)指设备存在过热,有一定温差,温度场有一定梯度,但不会引起事故的缺陷 (B)一般要求记录在案,注意观察其缺陷的发展,利用停电机会检修,有计划地安排试验检修消缺 (C)当发热点温升值小于10K时,不宜采用附录D的规定确定设备缺陷的性质 (D)电压致热型设备的缺陷一般定为一般及以上的缺陷
参考答案
参考解析
解析:
更多 “红外热像检测中,对于一般缺陷的相关描述,正确的是()。(A)指设备存在过热,有一定温差,温度场有一定梯度,但不会引起事故的缺陷 (B)一般要求记录在案,注意观察其缺陷的发展,利用停电机会检修,有计划地安排试验检修消缺 (C)当发热点温升值小于10K时,不宜采用附录D的规定确定设备缺陷的性质 (D)电压致热型设备的缺陷一般定为一般及以上的缺陷 ” 相关考题
考题
红外热像检测中,对于危急缺陷的相关描述,正确的是()。指设备最高温度超过GB/T11022规定的最高允许温度的缺陷$;$这类缺陷应立即安排处理$;$对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流$;$对电压致热型设备,当缺陷明显时,应立即消缺或退出运行,如有必要,可安排其他试验手段,进一步确定缺陷性质
考题
红外热像检测中检测数据分析与处理时,对不同类型的设备采用相应的()和(),并由热像特点进一步分析设备的缺陷特征,判断出设备的缺陷类型(A)判断规则 (B)判断方法 (C)判断标准 (D)判断依据
考题
《红外热像检测细则》中规定,当缺陷是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁
考题
《变电检测管理规定第1分册红外热像检测细则》:红外热像检测根据被测设备的材料设置辐射率,作为一般检测,被测设备的辐射率一般取( )左右。0.88$; $0.89$; $0.9$; $0.92
考题
红外热像检测中,以下对于电流致热型危机缺陷处理方法正确的是()。利用停电机会检修,有计划地安排试验检修消除缺陷$;$加强检测,必要时降低负荷电流$;$尽快安排处理$;$应立即降低负荷电流或立即消缺
考题
红外热像检测中,对于严重缺陷的相关描述,正确的是()。A、指设备存在过热,程度较重,温度场分布梯度较大,温差较大的缺陷B、这类缺陷应立即安排处理C、对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流D、电压致热型设备的缺陷一般定为严重及以上的缺陷
考题
红外热像检测,对不同类型的设备采用相应的判断方法、判断依据,并由热像特点进一步分析设备的缺陷特征,判断出设备的缺陷类型。
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