网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
《红外热像检测细则》中规定,当缺陷是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。

(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁

参考答案

参考解析
解析:
更多 “《红外热像检测细则》中规定,当缺陷是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁 ” 相关考题
考题 当缺陷是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。( )

考题 对于磁场和漏磁引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。( )

考题 依据红外热像检测细则管理规定,进行电力设备红外测温缺陷判别时,表面温度判断法主要适用于( )的设备。 电流致热型 $;$电磁效应引起发热 $;$电压致热型 $;$ 综合致热型

考题 依据红外热像检测细则规定,电力设备红外检测,判断为危急缺陷时,对电流致热型设备,应采取必要的措施,必要时降低负荷电流

考题 《变电检测管理规定第1分册红外热像检测细则》:电流致热型缺陷检测,一般应在不低于( )的额定负荷下进行,同时应考虑小负荷电流对测试结果的影响。0.3$; $0.4$; $0.5$; $0.6

考题 红外热像检测过热危机缺陷中对(____)致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流。环境$; $功率$; $电流$; $电压

考题 红外热像检测中,对于危急缺陷的相关描述,正确的是()。指设备最高温度超过GB/T11022规定的最高允许温度的缺陷$;$这类缺陷应立即安排处理$;$对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流$;$对电压致热型设备,当缺陷明显时,应立即消缺或退出运行,如有必要,可安排其他试验手段,进一步确定缺陷性质

考题 《红外热像检测细则》中规定,以下电流致热型缺陷,严重缺陷标准为热点温度大于55℃或δ≥80 %的有( )。(A)断路器 (B)电流互感器 (C)套管 (D)电容器

考题 《红外热像检测细则》中规定,以下电流致热型缺陷,严重缺陷标准为热点温度大于55℃或δ大于或等于80%的有()。(A)断路器 (B)电流互感器 (C)套管 (D)电容器

考题 红外热像检测中,对于一般缺陷的相关描述,正确的是()。(A)指设备存在过热,有一定温差,温度场有一定梯度,但不会引起事故的缺陷 (B)一般要求记录在案,注意观察其缺陷的发展,利用停电机会检修,有计划地安排试验检修消缺 (C)当发热点温升值小于10K时,不宜采用附录D的规定确定设备缺陷的性质 (D)电压致热型设备的缺陷一般定为一般及以上的缺陷

考题 红外热像检测,对于负荷率小、温差小但相对温差大的设备,如果负荷有条件或机会改变时,可在增大负荷电流后进行复测,以确定设备缺陷的性质,当无法改变时,可暂定为一般缺陷,加强监视。

考题 红外热像检测中,图像特征判断法主要适用于()电流致热型的设备$;$电磁效应引起发热的设备$;$综合致热型设备$;$电压致热型设备

考题 《红外热像检测细则》中规定过热缺陷对电气设备运行的影响程度将缺陷分类不正确的是(____)。 普通缺陷$; $一般缺陷$; $严重缺陷$; $危急缺陷

考题 红外热像检测表面温度判断法:主要适用于( )引起发热的设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电感效应$;$电磁效应

考题 对于磁场和漏磁引起的过热可根据( )设备的判据进行处理。电流致热型 $;$电磁效应 $;$电压致热型 $;$综合致热型

考题 红外热成像检测发现缺陷时,若是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

考题 《红外热像检测细则》中规定,以下电压致热型温差判据为2-3K的设备有()(A)油浸式耦合电容器 (B)高压套管 (C)油浸式电流互感器 (D)电缆终端

考题 红外热像检测中,图像特征判断法主要适用于( )(A)电流致热型的设备 (B)电磁效应引起发热的设备 (C)综合致热型设备 (D)电压致热型设备

考题 《红外热像检测细则》中规定,根据过热缺陷对电气设备运行的影响程度将缺陷分为以下几类:( )。(A)一般缺陷 (B)异常缺陷 (C)严重缺陷 (D)危急缺陷

考题 红外热像检测中,以下对于电流致热型危机缺陷处理方法正确的是()。利用停电机会检修,有计划地安排试验检修消除缺陷$;$加强检测,必要时降低负荷电流$;$尽快安排处理$;$应立即降低负荷电流或立即消缺

考题 红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据()致热型设备的判据进行处理。电流$;$电压$;$功率$;$涡流

考题 依据红外热像检测细则管理规定,进行电力设备红外测温缺陷判别时,表面温度判断法主要适用于()的设备。(A)电流致热型 (B)电磁效应引起发热 (C)电压致热型 (D)综合致热型

考题 对()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。A、电场B、磁场C、剩磁D、漏磁

考题 红外热像检测表面温度判断法主要适用于()引起发热的设备。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型

考题 对于磁场和漏磁引起的过热可根据()设备的判据进行处理。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型

考题 红外热像检测中,对于严重缺陷的相关描述,正确的是()。A、指设备存在过热,程度较重,温度场分布梯度较大,温差较大的缺陷B、这类缺陷应立即安排处理C、对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流D、电压致热型设备的缺陷一般定为严重及以上的缺陷

考题 红外热像检测表面温度判断法主要适用于电压致热型;综合致热型引起发热的设备。