考题
空白试验可以消除由于试剂不纯而引起的误差。()
此题为判断题(对，错)。
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用A．双波长法和双试剂两点法B．单试剂法和双试剂两点法C．双试剂单波长一点法和单试剂法D．双试剂两点法和双波长法E．双试剂单波长一点法和双试剂两点法
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用A、单试剂法B、单波长法C、双波长法D、双试剂单波长一点法E、双试剂两点法
考题
对照试验的作用是()。
A、检查试剂是否带入杂质B、减少或消除系统误差C、检查所用分析方法的准确性D、检查仪器是否正常
考题
仪器和试剂引起的分析误差属于有某些恒定因素影响而出现的系统误差。()
此题为判断题(对，错)。
考题
下列那种情况会引起分析试验的随机误差。()A.测定温度波动B.方法误差C.仪器引入的误差D.试剂引入的误差
考题
克服某些试剂不稳定引起韵误差可以采用A．双波长法和双试剂两点法B．单试剂法和双试剂两点法C．双试剂单波长一点法和单试剂法D．双试剂两点法和双波长法E．双试剂单波长一点法和双试剂两点法
考题
为减少分析测定中的偶然误差，可采用A．增加平行试验次数B．做试剂空白C．样本空白D．校正仪器E．对照实验
考题
为减少分析测定中的偶然误差，可采用A、增加平行试验次数B、试剂空白C、样本空白D、校正仪器E、对照实验
考题
为提高分析结果的质量，减少因试剂带来的系统误差，可采用（）的方法给予校正。
考题
仪器和试剂引起的分析误差，属于由某些恒定因素影响而出现的系统误差。
考题
空白试验可以消除由试剂、器皿等引入杂质所引起的系统误差。
考题
空白试验可以消除试剂和器皿杂质引起的系统误差。（）
考题
以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足E、操作的偶然失误
考题
以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（）A、双波长法B、单试剂法C、双试剂单波长一点法D、双试剂两点法E、终点法
考题
为减少分析测定中的偶然误差，可采用（）A、增加平行试验次数B、做试剂空白C、样本空白D、校正仪器E、对照实验
考题
消除或减小试剂中微量杂质引起的误差常用的方法是（）A、空白试验B、对照试验C、平行试验D、校准仪器
考题
下列哪种情况会引起分析试验的随机误差（）A、测定温度波动B、方法误差C、仪器引入的误差 D、试剂引入的误差
考题
下列那种情况会引起分析试验的随机误差。（）A、测定温度波动B、方法误差C、仪器引入的误差D、试剂引入的误差
考题
为提高分析结果的质量，减少试剂带来的误差，可采用（）的方法给予校正。
考题
基准物质不纯所引起的试剂误差一般用对照试验进行校正。
考题
单选题以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A
试剂不纯B
天平不准C
室温波动D
方法本身的不足
考题
多选题克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（）A双波长法B单试剂法C双试剂单波长一点法D双试剂两点法E终点法
考题
多选题以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A试剂不纯B天平不准C室温波动D方法本身的不足E操作的偶然失误
考题
单选题下列哪种情况会引起分析试验的随机误差（）A
测定温度波动B
方法误差C
仪器引入的误差 D
试剂引入的误差
考题
多选题克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（ ）A双试剂单波长一点法B双试剂两点法C双波长法D单试剂法E单波长法