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下列哪项因素不会影响光纤得连接损耗()

  • A、光纤模场直径相同
  • B、待熔接光缆的间隙不当
  • C、光纤轴向错位
  • D、光纤端面不完整

参考答案

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考题 单模光纤本征因素对连接损耗影响最大的是模场直径。此题为判断题(对,错)。

考题 单模光纤连接损耗的产生原因中,影响最大的本征因素是模场直径,当采用熔接法接续时,影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜,轴心错位,纤芯变形。此题为判断题(对,错)。

考题 因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是( )。A.模场直径B.数值孔径C.光纤线径D.纤芯相对折射率差

考题 光纤熔接出现连接处变细的原因是( )。A.光纤间隙过大B.电流过小C.光纤推进过长D.光纤端面不清洁

考题 产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。() 此题为判断题(对,错)。

考题 光纤的熔接过程是() A、制备端面-熔接光纤-盘纤-确保光缆接续质量B、制备端面-盘纤-熔接光纤-确保光缆接续质量C、确保光缆接续质量-制备端面-熔接光纤-盘纤D、确保光缆接续质量-熔接光纤-制备端面-盘纤

考题 影响光纤熔接损耗的因素较多,以下因素中影响最大的是(64)。A. 光纤模场直径不一致 B. 两根光纤芯径失配 C. 纤芯截面不圆 D. 纤芯与包层同心度不佳

考题 光缆线路工程中继段应测试( )。A.光纤反射损耗 B.光纤接头损耗 C.光纤模场直径 D.光纤抗张强度

考题 影响光纤熔接损耗的因素较多,影响最大的是()。A、光纤模场直径不一致B、两根光纤芯径失配C、纤芯截面不圆D、纤芯与包层同心度不佳

考题 对单模光纤来讲,外界因素主要是轴心错位和轴向倾斜对连接损耗影响最大。

考题 下列哪些不是光纤产生连接损耗的原因?()A、光纤模场直径不同B、光纤轴向错位C、光纤端面不完整D、光纤涂附层颜色

考题 光纤连接损耗产生因素中轴向倾斜是指()A、光纤轴心错位B、光纤端面倾斜C、光纤端面分离

考题 影响连接损耗的因素很多,如轴向错位、光纤端面不完善、端面间存在间隙等。

考题 产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。

考题 单模光纤的模场直径不同不会引起光纤接头的固有损耗增大。

考题 单模光纤连接时,外界因素中()对连接损耗影响最大。A、熔接温度B、纤芯变形C、光纤轴心错位和轴向倾斜

考题 单模光纤本征因素中对连接损耗影响最大的是()不匹配。A、数值孔径NAB、模场直径C、光纤几何参数D、光纤截止波长

考题 光缆线路工程中继段应测试()。A、光纤反射损耗B、光纤接头损耗C、光纤模场直径D、光纤抗张强度

考题 单模光纤连接损耗的外界因素主要有()。A、芯包层同心度不圆度B、轴心错位C、轴向倾斜D、纤芯变形E、模场直径不符

考题 单模光纤本征因素对连接损耗影响最大的是模场直径。

考题 光纤熔接出现连接处变细的原因是()。A、光纤间隙过大B、电流过小C、光纤推进过长D、光纤端面不清洁

考题 因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是()。A、模场直径B、数值孔径C、光纤线径D、纤芯相对折射率差

考题 单模光纤本征因素对接头损耗影响最大的是()。A、模场直径B、外径不圆度C、光纤间隙D、粒子散射

考题 单选题光纤连接损耗产生因素中轴向倾斜是指()A 光纤轴心错位B 光纤端面倾斜C 光纤端面分离

考题 判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。A 对B 错

考题 单选题影响光纤熔接损耗的因素较多,影响最大的是()。A 光纤模场直径不一致B 两根光纤芯径失配C 纤芯截面不圆D 纤芯与包层同心度不佳

考题 判断题影响连接损耗的因素很多,如轴向错位、光纤端面不完善、端面间存在间隙等。A 对B 错