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测定当量用的对比试块,要求材质、探测面形状及粗糙度与试件相同,否则要对测定结果进行()。


参考答案

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考题 用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量。( )A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔

考题 对在花盘和角铁上车削工件时用的平衡块有()要求。A、形状B、质量C、精度D、材质

考题 下列说法正确的是()A、标准试块就是对比试块B、对比试块的材质与试件的材质必须相同或相似C、超声探伤时根本不需要用标准试块或对比试块调试仪器D、用试块调试仪器时,灵敏度尽量高,发现缺陷就报废,以保证产品质量

考题 对比试块是指检查特定试件时,所须用的试块,用于调整仪器的灵敏度,调整测试范围,评定缺陷的当量尺寸及保证检验结果的再现。

考题 在使用对比试块时,如果对比试块与受检件之间由于表面粗糙度不同或材质不同而有声传输特性差异时,应进行传输修正,修正可通过将来自对比试块背面的回波幅度和来自同厚度受检件背面的回波幅度进行比较而确定。修正值超过±6dB,该对比试块不应采用。

考题 制备超声探伤的试件时希望试件中的材质(),形状简单,表面粗糙度要好。

考题 超声检测时只有在试块和试件的材质、探测面形状和厚度均相同的条件下,才能进行探测面粗糙度差值的测。

考题 超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下,才能进行材质差值的测定。

考题 用IIW标准块试块测定斜探头的折射角,在探测任何声波的试件时此值()。A、不变B、变化

考题 标准试块的材质、形状、尺寸和人工缺陷形式与对比试块不同,主要表现在不一定有人工缺陷。

考题 测定当量的对比试块只要求人工缺陷的距离和缺陷的距离相同。

考题 用试块的方法校准探测灵敏度时,为了避免修正,应采用实物对比试块。

考题 用IIW试块测定的斜探头的折射角度,在探测任何声束的试件时,比值()。A、不变B、变化

考题 面积──幅度对比试块中的平底孔是:()A、孔径相同B、孔径不同距离相同C、孔至探测面深度不一D、上述都不对

考题 一个校正好的超声探测系统,在100mm声程处的缺陷回波比试块上200mm处直径,横孔反射波幅度高8dB,如果工件表面状态和材质与试块相同,求缺陷的当量横孔直径。

考题 判断题用试块的方法校准探测灵敏度时,为了避免修正,应采用实物对比试块。A 对B 错

考题 判断题测定当量的对比试块只要求人工缺陷的距离和缺陷的距离相同。A 对B 错

考题 单选题在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量:()A 等于Φ2mm平底孔B 比Φ2mm平底孔大C 比Φ2mm平底孔小D 大于等于Φ2mm平底孔

考题 单选题标准试块的材质形状尺寸和人工缺陷形式与对比试块的不同,主要表现在()。A 须与所检工件及要求检出的缺陷一样B 经过主管机关检定认可C 不一定有人工缺陷D 外表面必须精磨光滑

考题 填空题制备超声探伤的试件时希望试件中的材质(),形状简单,表面粗糙度要好。

考题 单选题下列说法正确的是()A 标准试块就是对比试块B 对比试块的材质与试件的材质必须相同或相似C 超声探伤时根本不需要用标准试块或对比试块调试仪器D 用试块调试仪器时,灵敏度尽量高,发现缺陷就报废,以保证产品质量

考题 判断题标准试块的材质、形状、尺寸和人工缺陷形式与对比试块不同,主要表现在不一定有人工缺陷。A 对B 错

考题 判断题超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下,才能进行材质差值的测定。A 对B 错

考题 单选题面积──幅度对比试块中的平底孔是:()A 孔径相同B 孔径不同距离相同C 孔至探测面深度不一D 上述都不对

考题 单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角,在探测任何声波的试件时此值()。A 不变B 变化

考题 判断题超声检测时只有在试块和试件的材质、探测面形状和厚度均相同的条件下,才能进行探测面粗糙度差值的测。A 对B 错

考题 填空题测定当量用的对比试块,要求材质、探测面形状及粗糙度与试件相同,否则要对测定结果进行()。