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THDS-C探头噪声检测从四路探头对应的通道取出（）的探头信号，转换为电压（mV）后，取峰-峰值得到结果。

  • A、10点
  • B、20点
  • C、30点
  • D、32点

参考答案

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考题 在实际检测中，常用的探头有（）、（）、双晶探头、聚焦探头等。
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考题 长方体锻件最主要检测方向是（）。A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 直探头垂直的两端面检测
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考题 （哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
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考题 单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
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考题 超声波检测常用的探头种类有直探头、斜探头、组合双晶探头、水浸探头。
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考题 饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
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考题 HZT-2000型中心主机自检波形的下探静态自检值中，第一个值表示（）。A、辅机通道隔离板的垫底值B、关保护门的探头噪声C、探头照天空的输出值，检查探头的输出增益D、开保护门的探头噪声
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考题 THDS-C探测站中，如果出现探头噪声大，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A、探头B、探头电缆C、前放板D、A/D卡E、I/O卡
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考题 （康拓）THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声，并且还可以检测光子探头的漂移。
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考题 THDS-BS系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头的噪声，并且还可以检测光子探头的漂移。
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考题 （哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
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考题 反射法5mm水平裂纹当量的探伤灵敏度是（）。A、0°探头通道B、37°探头通道C、70°探头通道D、80°探头通道
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考题 （哈科）THDS-C系统直流光子探头静噪声：≤10mV（有效值）。
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考题 THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
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考题 THDS-C探测站造成探头温度输出偏低的原因可能的是（）。A、探头镜片破碎B、探头视场有遮挡C、热靶表面太脏D、探头响应率太低E、探头响应率太高
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考题 判断题（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A 对B 错
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考题 单选题THDS-C探头噪声检测从四路探头对应的通道取出（）的探头信号，转换为电压（mV）后，取峰-峰值得到结果。A 10点B 20点C 30点D 32点
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考题 多选题THDS-C探测站中，如果出现探头噪声大，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A探头B探头电缆C前放板DA/D卡EI/O卡
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考题 判断题（哈科）THDS-C系统直流光子探头静噪声：≤10mV（有效值）。A 对B 错
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考题 单选题JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，对不锈钢堆焊层超声检测可采用的探头类型为（）。A  直探头、纵波斜探头、横波斜探头B  双晶探头、纵波斜探头、横波斜探头C  双晶探头、直探头、纵波斜探头、纵波双晶斜探头D  双晶探头、直探头、横波斜探头
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考题 判断题（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错
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考题 多选题THDS-C探测站造成探头温度输出偏低的原因可能的是（）。A探头镜片破碎B探头视场有遮挡C热靶表面太脏D探头响应率太低E探头响应率太高
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考题 单选题单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）。A 来自工件表面的杂波B 来自探头的噪声C 工件上近表面缺陷的回波D 耦合剂噪声
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考题 单选题THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A 热敏探头和交流探头B 光子探头C 直流探头和交流探头D 光子探头和交流探头
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考题 单选题HZT-2000型中心主机自检波形的下探静态自检值中，第二个值表示（）。A 辅机通道隔离板的垫底值B 关保护门的探头噪声C 探头照天空的输出值，检查探头的输出增益D 开保护门的探头噪声
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考题 判断题THDS-BS系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头的噪声，并且还可以检测光子探头的漂移。A 对B 错
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考题 判断题（康拓）THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声，并且还可以检测光子探头的漂移。A 对B 错
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