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(哈科)THDS-B系统器件温度不稳定会造成测温精度下降。


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考题 THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变

考题 (哈科)THDS-B系统报器温故障时与下列哪个硬件无关()。A、AD采集卡B、内探测温板C、接口板D、光子探头

考题 (哈科)THDS-B系统中器件温度是光子探头信号。

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考题 THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温()。A、一致性好B、精确性高C、误差大D、可靠

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

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考题 (哈科)THDS-B系统中光子探头需要调制控制。

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考题 (哈科)THDS-B系统1号磁钢故障不会对接车数据造成影响。

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A 对B 错

考题 单选题(哈科)THDS-B系统报器温故障时与下列哪个硬件无关()。A AD采集卡B 内探测温板C 接口板D 光子探头

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考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-B系统器件温度不稳定会造成测温精度下降。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-B系统1号磁钢故障不会对接车数据造成影响。A 对B 错

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A 测温误差大B 测温良好C 测温稳定D 测温不变

考题 判断题(哈科)THDS-B系统中器件温度是光子探头信号。A 对B 错

考题 判断题(康拓)THDS-B系统器件温度不稳定会造成测温精度下降。A 对B 错