考题
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线加热过快，可能会影响设备的测温精度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
（哈科）THDS-B系统器件温度不稳定会造成测温精度下降。
考题
THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为（）A、热敏探头和光子探头B、调制探头和光子探头C、热敏探头和直流探头D、调制探头和直流探头
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温（）。A、一致性好B、精确性高C、误差大D、可靠
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中轨边探头箱的主要作用有（）。A、防雪B、测温C、保护探头D、测速E、测距
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）系统，左侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成左侧探头测温异常。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）A、热敏探头B、光子探头C、调制探头D、直流探头E、测温探头
考题
（康拓）THDS-A系统中调制探头中测温元件为碲镉汞光子器件。
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，左侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成左侧探头测温异常。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中轨边探头箱的主要作用有（）。A防雪B测温C保护探头D测速E测距
考题
判断题（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错
考题
判断题（康拓）THDS-A系统中调制探头中测温元件为碲镉汞光子器件。A
对B
错
考题
多选题轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）A热敏探头B光子探头C调制探头D直流探头E测温探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温（）。A
一致性好B
精确性高C
误差大D
可靠
考题
单选题THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为（）A
热敏探头和光子探头B
调制探头和光子探头C
热敏探头和直流探头D
调制探头和直流探头
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。A
对B
错
考题
单选题用特殊温度探头置于Foley导尿管中测得的是（）A
鼻咽测温B
口腔测温C
鼓膜测温D
膀胱测温E
食管测温
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A探头出现问题B无法正确测曲线C环温出现异常D影响轴温测温精度E不影响轴温测温精度