考题
离子选择电极法测定范围为（）A、10-1~10-6mol/LF-B、10-2~10-5mol/LF-C、10-3~10-4mol/LF-D、10-1~10-5mol/LF-E、10-1~10-4mol/LF-
考题
1mD﹦（）D﹦（）μm2。A、10-1，10-1B、10-3，10-3C、10-6，10-6D、10-2，10-2
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中CQI块错误率的目标质量为（）A、10-1～10-2B、10-2～10-3C、10-3～10-4D、10-2～10-4
考题
HSDPA中引入的上行链路高速专用物理控制信道HS-SICH承载的信息包括：（）A、用户数据B、信道质量指示CQIC、HARQ确认信息ACK/NACKD、层3RRC的信令
考题
LTE下行ACK/NACK信令BER目标中上行调度授权漏检的目标质量为（）A、10-1B、10-2C、10-3D、10-4
考题
上行参考信号的作用包括（）A、小区搜索B、上行信道质量测量C、上行信道质量估计,用于eNB端的相干检测和解调D、切换
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中DTX→ACK错误的目标质量为（）A、10-1B、10-2C、10-3D、10-4
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中CQI块错误率的目标质量为（）A、1/10~2/10B、2/10~3/10C、3/10~4/10D、2/10~4/10
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中ACK漏检的目标质量为（）A、10-1B、10-2C、10-3D、10-4
考题
LTE下行ACK/NACK信令BER目标中上行调度授权漏检的目标质量为（）A、10-1，B、10-2，C、10-3，D、10-4.
考题
LTE下行ACK/NACK信令BER目标中NACK→ACK错误的目标质量为（）A、10-1，B、10-2，C、10-3，D、10-4.
考题
LTE下行ACK/NACK信令BER目标中NACK→ACK错误的目标质量为（）A、10-1B、10-2C、10-3D、10-4
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中NACK→ACK错误的目标质量为（）A、1/10~2/10B、2/10~3/10C、3/10~4/10D、2/10~4/10
考题
LTE下行ACK/NACK信令BER目标中下行调度信息漏检的目标质量为（）A、10-1B、10-2C、10-3D、10-4
考题
LTE下行ACK/NACK信令BER目标中下行调度信息漏检的目标质量为（）A、10-1，B、10-2，C、10-3，D、10-4.
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中CQI块错误率的目标质量为（）A、10-1～10-2，B、10-2～10-3，C、10-3～10-4，D、10-2～10-4.
考题
LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中NACK→ACK错误的目标质量为（）A、10-1，B、10-2，C、10-3，D、10-4.
考题
灭弧室真空度测量所用测试仪器用作定量检测的仪器真空度在（）Pa范围内。A、10-2～10-1B、10-3～10-1C、10-4～10-1D、10-5～10-1
考题
单选题LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中CQI块错误率的目标质量为（）A
10-1～10-2，B
10-2～10-3，C
10-3～10-4，D
10-2～10-4.
考题
单选题LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中NACK→ACK错误的目标质量为（）A
10-1，B
10-2，C
10-3，D
10-4.
考题
单选题LTE下行ACK/NACK信令BER目标中NACK→ACK错误的目标质量为（）A
10-1，B
10-2，C
10-3，D
10-4.
考题
单选题LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中ACK漏检的目标质量为（）A
10-1，B
10-2，C
10-3，D
10-4.
考题
单选题LTE下行ACK/NACK信令BER目标中上行调度授权漏检的目标质量为（）A
10-1，B
10-2，C
10-3，D
10-4.
考题
单选题LTE下行ACK/NACK信令BER目标中下行调度信息漏检的目标质量为（）A
10-1，B
10-2，C
10-3，D
10-4.
考题
单选题LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中CQI块错误率的目标质量为（）A
1/10~2/10B
2/10~3/10C
3/10~4/10D
2/10~4/10
考题
单选题LTE中上行控制信道检测与错误检测要求中NACK→ACK错误的目标质量为（）A
1/10~2/10B
2/10~3/10C
3/10~4/10D
2/10~4/10
考题
多选题上行参考信号的作用包括：（）A小区搜索B上行信道质量测量C上行信道质量估计，用于eNB端的相干检测和解调D切换