网友您好， 请在下方输入框内输入要搜索的题目：

题目内容 （请给出正确答案）

A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有（）。

  • A、缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度
  • B、缺陷的反射波高
  • C、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度
  • D、自表面测得的缺陷延伸度

参考答案

更多 “A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有（）。A、缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B、缺陷的反射波高C、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D、自表面测得的缺陷延伸度” 相关考题
考题 B型显示探伤仪不能直观显示出缺陷深度。() 此题为判断题(对，错)。
查看答案
考题 超声波检测中对探伤仪的定标(校准时基线)操作是为了()A.评定缺陷大小 B.判断缺陷性质 C.确定缺陷位置 D.测量缺陷长度
查看答案
考题 一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是()A.A型显示 B.B型显示 C.C型显示 D.以上都不是
查看答案
考题 按缺陷显示方式分类，超声波探伤仪分为A型显示和超声成像（B型、C型等）显示。
查看答案
考题 一种超声波探伤仪可直观地显示被检工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度，这种显示是（）。A、 A型显示B、 B型显示C、 C型显示D、 以上都是
查看答案
考题 一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）A、A型显示B、B型显示C、C型显示D、以上都不是
查看答案
考题 A型扫描显示中，从荧光上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
查看答案
考题 超声波检测中对探伤仪的定标（校准时基线）操作是为了（）A、评定缺陷大小B、判断缺陷性质C、确定缺陷位置D、测量缺陷长度
查看答案
考题 A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
查看答案
考题 A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）。A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间
查看答案
考题 A型显示超声波探伤中，缺陷的定量评定方法有那些？
查看答案
考题 A型超声波探伤仪，荧光屏上的垂直显示表示（）。A、回波大小B、缺陷位置C、材料厚度D、传播时间
查看答案
考题 C型显示探伤仪荧光屏上可显示出工件内部缺陷的（），但不能显示（）。
查看答案
考题 A型显示探伤仪，从示波屏上可获得的信息是：（）。A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间D、探伤仪的精度
查看答案
考题 B型显示探伤仪能够直观显示出缺陷深度。
查看答案
考题 判断题按缺陷显示方式分类，超声波探伤仪分为A型显示和超声成像（B型、C型等）显示。A 对B 错
查看答案
考题 单选题一种超声波探伤仪可直观地显示被检工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度，这种显示是（）。A  A型显示B  B型显示C  C型显示D  以上都是
查看答案
考题 问答题A型显示超声波探伤中，缺陷的定量评定方法有那些？
查看答案
考题 单选题一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）A A型显示B B型显示C C型显示D 以上都不是
查看答案
考题 单选题A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）。A 缺陷取向B 缺陷指示长度C 缺陷波幅和传播时间
查看答案
考题 单选题A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）A 缺陷取向B 缺陷指示长度C 缺陷波幅和传播时间D 以上全部
查看答案
考题 单选题A型超声波探伤仪，荧光屏上的垂直显示表示（）。A 回波大小B 缺陷位置C 材料厚度D 传播时间
查看答案
考题 填空题C型显示探伤仪荧光屏上可显示出工件内部缺陷的（），但不能显示（）。
查看答案
考题 多选题A型显示探伤仪，从示波屏上可获得的信息是：（）。A缺陷取向B缺陷指示长度C缺陷波幅和传播时间D探伤仪的精度
查看答案
考题 单选题A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有（）。A 缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B 缺陷的反射波高C 被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D 自表面测得的缺陷延伸度
查看答案
考题 单选题超声波检测中对探伤仪的定标（校准时基线）操作是为了（）A 评定缺陷大小B 判断缺陷性质C 确定缺陷位置D 测量缺陷长度
查看答案
考题 判断题A型显示探伤仪，利用D.G.S曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。A 对B 错
查看答案
热门标签
最新试卷