考题
缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。（）此题为判断题(对，错)。
考题
从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息、超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法进行：（）A、精确对缺陷定位B、精确测定缺陷形状C、测定缺陷的动态波形D、以上方法须同时使用
考题
A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：（）A、超声回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超声传播时间
考题
A型扫描显示中，屏幕上水平显示表示（）A、探头移动距离B、缺陷回波幅度大小C、缺陷大小D、声波传播时间
考题
A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间D、以上全部
考题
A型扫描显示中，从荧光上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
考题
缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向，缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。（）
考题
A型扫描显示中，水平基线代表：（）A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小
考题
A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A、 缺陷的性质和大小B、 缺陷的形状和取向C、 缺陷的回波幅度和时间距离D、 超声波的波形
考题
A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）。A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间
考题
A型超声波探伤仪，荧光屏上的垂直显示表示（）。A、回波大小B、缺陷位置C、材料厚度D、传播时间
考题
A型显示探伤仪，从示波屏上可获得的信息是：（）。A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间D、探伤仪的精度
考题
缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。
考题
单选题A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）。A
缺陷取向B
缺陷指示长度C
缺陷波幅和传播时间
考题
单选题从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息、超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法进行：（）A
精确对缺陷定位B
精确测定缺陷形状C
测定缺陷的动态波形D
以上方法须同时使用
考题
单选题A型扫描显示中，从荧光上直接可获得的信息是：（）A
缺陷的性质和大小B
缺陷的形状和取向C
缺陷回波的大小和超声传播的时间D
以上都是
考题
单选题A型扫描显示中，屏幕上水平显示表示（）A
探头移动距离B
缺陷回波幅度大小C
缺陷大小D
声波传播时间
考题
单选题A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）A
缺陷取向B
缺陷指示长度C
缺陷波幅和传播时间D
以上全部
考题
单选题A型超声波探伤仪，荧光屏上的垂直显示表示（）。A
回波大小B
缺陷位置C
材料厚度D
传播时间
考题
单选题A型扫描显示中，水平基线代表：（）A
超声回波的幅度大小B
探头移动距离C
声波传播时间D
缺陷尺寸大小
考题
单选题A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示波高的大小表示：（）A
超声回波的幅度大小B
缺陷的位置C
被探材料的厚度D
超声传播时间
考题
判断题缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。A
对B
错
考题
多选题A型显示探伤仪，从示波屏上可获得的信息是：（）。A缺陷取向B缺陷指示长度C缺陷波幅和传播时间D探伤仪的精度
考题
单选题A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：（）A
超声回波的幅度大小B
缺陷的位置C
被探材料的厚度D
超声传播时间
考题
判断题缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向，缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。（）A
对B
错
考题
单选题A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A
缺陷的性质和大小B
缺陷的形状和取向C
缺陷的回波幅度和时间距离D
超声波的波形
考题
单选题A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（）A
缺陷的性质和大小B
缺陷的形状和取向C
缺陷回波的大小和超声传播的时间D
以上都是