考题
现场焊接的焊缝全断面探伤要用到()A、K2.5B、K1C、直探头D、串列式扫查架
考题
轨腰至轨底三角区中心,必须使用轨面串列式扫查架进行探测。()
此题为判断题(对，错)。
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
考题
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是()A.斜平行扫查
B.串列扫查
C.双晶斜探头前后扫查
D.交叉扫查
考题
对厚焊缝进行串列法探伤时，探头的移动方式分别为（）和（）两种串列扫查形式。
考题
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是（）A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查
考题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A、 交叉式B、 V型串列式C、 K型串列式D、 串列式
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
在超声波水浸探伤装置中，调节和保持探头角度的组件，称为：（）A、扫查架B、探头控制器C、扫查管D、批示系统
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列斜探头
考题
以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测
考题
在一般水浸探伤装置中，横跨在水槽宽度方向上的组件，称为：（）A、发声装置B、扫查架C、探头控制器D、探测管
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列双斜探头
考题
焊缝轨腰双K0.8探头探测范围校正：按横波声程（）标定。A、1比1B、1比2C、1比3D、1比4
考题
在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A、K1B、K2C、K3D、K0.8～K1
考题
单选题主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A
交叉式B
V型串列式C
K型串列式D
串列式
考题
单选题在一般水浸探伤装置中，横跨在水槽宽度方向上的组件，称为：（）A
发声装置B
扫查架C
探头控制器D
探测管
考题
单选题以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A
直探头在翼板上扫查探测B
斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C
直探头在腹板上扫查探测D
斜探头在腹板上扫查探测
考题
单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是（）A
斜平行扫查B
串列扫查C
双晶斜探头前后扫查D
交叉扫查
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列斜探头
考题
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A
单斜探头法B
单直探头法C
双斜探头前后串列法D
分割式双直探头法
考题
填空题对厚焊缝进行串列法探伤时，探头的移动方式分别为（）和（）两种串列扫查形式。
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷
考题
单选题串列扫查架K0.8探头：[探测范围]设为“300mm”，[工作方式]设为“（）”。A
单B
双C
单或双D
串列
考题
单选题焊缝轨腰双K0.8探头探测范围校正：按横波声程（）标定。A
1比1B
1比2C
1比3D
1比4