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下列选项中，表示X线量的是（　）

  • A、半值层
  • B、靶物质
  • C、kV
  • D、mAs
  • E、电压波形

参考答案

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考题 关于X线量的叙述，错误的是A.表示X线光子的量B.可通过测量X线在空气中产生的电离电荷表示C.用管电流量表示D.常用管电压表示E.X线量与焦点到距离的平方呈反比
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考题 X线摄影中表示X线"量"的是A、半价层B、靶物质C、kVD、mAsE、整流波形
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考题 关于X线质和量的描述，错误的是A．在X线诊断中，常用X线管的管电流与照射时间的乘积(mAs)来表示X线量B．实际上，X线量是X线束中的光子数C．X线的质也称X线的硬度，即穿透力的大小D．X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E．X线量的另一种表示方法是用半价层
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考题 在临床X线工作中，常用来表示X线量的是A．kVB．mAC．mAsD．kV·mAsE．以上都不是
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考题 实际应用中，表示X线量的是A．mAB．masC．kVpD．HVLE．Hu
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考题 关于X线量的叙述，正确的是A.X线量是指X线光子的穿透能力B.X线量是根据X线特性直接测量C.与靶面物质的原子序数Z成反比D.与给予X线管的电能成反比E.诊断X线范围常用mAs表示
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考题 关于X线的叙述，错误的是A.X线管电压增高，X线波长变短B.高压波形不影响X线强度C.X线质是由管电压决定D.X线诊断范围X线量用mAs表示E.X线质也可用HVL表示
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考题 在如图4-17所示的S曲线中，下列选项叙述正确的是()。 A.X表示拖延的时间，Y表示拖欠的任务量 B.X表示超前的时间，Y表示拖欠的任务量 C.X表示拖延的时间，Y表示超额完成的任务量 D.X表示超前的时间，Y表示超额完成的任务量
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考题 关于X线质和量的描述，错误的是（）A、在X线诊断中，常用X线管的管电流与照射时间的乘积（mAs）来表示X线量B、实际上，X线量是X线束中的光子数C、X线的质也称X线的硬度，即穿透力的大小D、X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E、X线量的另一种表示方法是用半价层
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考题 实际应用中，表示X线量的是（）A、mAB、mAsC、kVpD、HVLE、HU
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考题 X线“量”与“质”表示X线的强度。
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考题 关于X线的叙述，错误的是（）A、X线管电压增高，X线波长变短B、高压波形不影响X线强度C、X线质是由管电压决定D、X线诊断范围X线量用mAs表示E、X线质也可用HVL表示
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考题 下列选项中不会对X线片对比度造成影响的是（）A、X线的质B、X线的量C、散射线的多少D、胶片距的大小E、X线胶片和暗室技术
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考题 关于X线量的叙述，错误的是（）A、表示X线光子的量B、可通过测量X线在空气中产生的电离电荷表示C、用管电流量表示D、常用管电压表示E、X线量与焦点到距离的平方成反比
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考题 关于X线强度的叙述，错误的是（）A、X线管电压增高，X线波长变短B、高压波形不影响X线强度C、X线质是由管电压决定D、X线量用管电流量mAs表示E、X线质也可用HVL表示
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考题 临床上常用“X线的硬度”表示（）A、X线的量B、X线的质C、摄影条件中的曝光量D、摄影条件中的电压E、摄影条件中的管电流
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考题 临床上常用"X线硬度"表示（）A、X线量B、X线质C、曝光量D、管电压E、管电流
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考题 X线摄影中表示X线量的是（）A、半值层B、靶物质C、kVD、mAsE、电压波形
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考题 单选题实际应用中，表示X线量的是（）A mAB mAsC kVpD HVLE HU
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考题 单选题下列选项中不会对X线片对比度造成影响的是（）A X线的质B X线的量C 散射线的多少D 胶片距的大小E X线胶片和暗室技术
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考题 单选题下列选项中，表示X线量的是（　）A 半值层B 靶物质C kVD mAsE 电压波形
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考题 单选题关于X线质和量的描述，错误的是（）A 在X线诊断中，常用X线管的管电流与照射时间的乘积（mAs）来表示X线量B 实际上，X线量是X线束中的光子数C X线的质也称X线的硬度，即穿透力的大小D X线的质仅与光子能量有关而与光子数目无关E X线量的另一种表示方法是用半价层
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考题 单选题关于X线量的叙述，错误的是（）A 表示X线光子的量B 可通过测量X线在空气中产生的电离电荷表示C 用管电流量表示D 常用管电压表示E X线量与焦点到距离的平方成反比
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