考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
D.以上全部
考题
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，宽度较大
考题
钢板超声波探伤，若仪器荧光屏上同时显示底波，缺陷回波，则存在大于声束直径的缺陷。
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，回波包络宽度较大
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部
考题
检测厚钢板采用垂直法探伤时，根据（）前后产生的回波情况进行缺陷评定。A、第一次底波B、第二次底波C、多次底波D、缺陷的水平距离
考题
粗糙的入射表面会使（）。A、 缺陷回波振幅降低B、 入射波幅加宽C、 荧光屏上出现“淋状波”D、 以上都对
考题
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。
考题
A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）。A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间
考题
有体积状缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，可能是：（）A、垂直法B、表面波法C、斜射法D、穿透法
考题
在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
考题
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
考题
锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。A、30mmB、35mmC、40mmD、50mm
考题
单选题粗糙的入射表面会使（）。A
入射波幅加宽B
缺陷回波振幅降低C
荧光屏上出现“淋状波”D
以上都对
考题
单选题锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
迟到波D
以上全部
考题
单选题锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A
反射波峰尖锐B
反射波稳定但较波幅低C
反射波幅低，宽度较大
考题
单选题A型显示探伤仪，从荧光屏上可获得的信息是（）。A
缺陷取向B
缺陷指示长度C
缺陷波幅和传播时间
考题
单选题有体积状缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，可能是：（）A
垂直法B
表面波法C
斜射法D
穿透法
考题
单选题锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A
反射波峰尖锐B
反射波稳定但较波幅低C
反射波幅低，回波包络宽度较大
考题
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A
平行且靠近探测面B
与声束方向平行C
与探测面成较大角度D
平行且靠近底面
考题
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A
平行且靠近探测面B
与声束方向平行C
与探测面成较大角度D
平行且靠近底面
考题
单选题锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
缺陷形状和取向D
以上全部
考题
单选题锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A
工件中有大面积倾斜缺陷B
工件材料晶粒粗大C
工件中有密集缺陷D
以上全部
考题
判断题钢板超声波探伤，若仪器荧光屏上同时显示底波，缺陷回波，则存在大于声束直径的缺陷。A
对B
错