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单选题
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
A

反射波峰尖锐

B

反射波稳定但较波幅低

C

反射波幅低，宽度较大

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考题 锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为()A.回波清晰、尖锐 B.缺陷的区域较大且集中于工件中心部位 C.会造成底波衰减 D.以上都是
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考题 锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，宽度较大
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考题 下面关于钢板探伤的叙述，哪一条是正确的：（）A、若出现缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B、无底波时，说明钢板无缺陷C、钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定D、钢板探伤应尽量采用低频率
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考题 锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为（）A、回波清晰、尖锐B、缺陷的区域较大且集中于工件中心部位C、会造成底波衰减D、以上都是
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考题 用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）A、可不考虑探伤面耦合差补偿B、可采用计算法或AVG曲线法C、可不使用试块D、可不考虑材质衰减修正
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考题 锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。
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考题 锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。
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考题 厚钢板探伤中，若出现缺陷得多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大。
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考题 钢轨探伤仪0°探头探伤如无缺陷反射波，则探测范围内无缺陷存在。
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考题 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
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考题 单选题下面关于钢板探伤的叙述，哪一条是正确的：（）A 若出现缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B 无底波时，说明钢板无缺陷C 钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定D 钢板探伤应尽量采用低频率
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考题 判断题钢轨探伤仪0°探头探伤如无缺陷反射波，则探测范围内无缺陷存在。A 对B 错
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考题 单选题用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）A 可不考虑探伤面耦合差补偿B 可采用计算法或AVG曲线法C 可不使用试块D 可不考虑材质衰减修正
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考题 判断题厚钢板探伤中，若出现缺陷得多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大。A 对B 错
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考题 单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A 平行且靠近探测面B 与声速方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面
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考题 单选题锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A 反射波峰尖锐B 反射波稳定但较波幅低C 反射波幅低，回波包络宽度较大
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考题 单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面
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考题 单选题在A型探伤中，F波幅度较高，与T波的距离较接近，说明（）。A 缺陷横截面积较大，且较接近探测表面B 缺陷横截面积较大，且较接近底面C 缺陷横截面积较小，但较接近探测表面D 缺陷横截面积较小，但较接近底面
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考题 单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面
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考题 判断题锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。A 对B 错
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考题 单选题锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为（）A 回波清晰、尖锐B 缺陷的区域较大且集中于工件中心部位C 会造成底波衰减D 以上都是
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