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单选题
控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方？（）
A

窗口、空气及地面

B

空气、试样和暗盒

C

试件前面、边缘和背面

D

试样、铅板和墙壁

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考题 下列哪项能改善底片影像颗粒太粗的问题？（）A、选用感光较慢底片及射线穿透力强B、选用感光较慢底片及射线穿透力弱C、选用感光较快底片及射线穿透力强D、选用感光较快底片及射线穿透力弱
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）和（）。
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考题 小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是：（）A、射线穿透力大B、射线底片清晰度好C、射线底片对比度好D、底片密度高
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考题 射线底片的评定对底片质量有哪些基本要求？
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考题 在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、增大宽容度和减少散射线对底片的影响。
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考题 射线检测底片质量技术等级有哪几种？如何选用？
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考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）A、窗口B、试件前面C、试件边缘D、试件背面
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考题 RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应（）A、缩小射线至底片的距离，且将底片紧贴试件B、增加射线至底片的距离，且将底片紧贴试件C、缩小射线至底片的距离，且将底片远离试件D、增加射线至底片的距离，且将底片远离试件
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考题 与大焦点X射线管相比，小焦点X射线管的优点是（）A、发射的射线穿透能力大B、得到的射线底片清晰度好C、得到的射线底片对比度低D、得到的射线底片黑度高
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考题 像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。
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考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方？（）A、窗口、空气及地面B、空气、试样和暗盒C、试件前面、边缘和背面D、试样、铅板和墙壁
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考题 散射线不影响射线照像底片的对比度而是影响底片的清晰度。
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考题 曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采取的措施是（）。A、 改用荧光增感屏B、 暗袋后加铅垫板C、 清除工件周围的杂物D、 铅板遮盖工件非透照部分
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是（）。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）、（）。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是铅板遮盖工件非透照部分。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低（）、（）。
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考题 射线底片的评定应由Ⅲ级射线检测人员担任（）
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考题 单选题下列哪项能改善底片影像颗粒太粗的问题？（）A 选用感光较慢底片及射线穿透力强B 选用感光较慢底片及射线穿透力弱C 选用感光较快底片及射线穿透力强D 选用感光较快底片及射线穿透力弱
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考题 单选题为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采取的措施是（）。A 改用荧光增感屏B 暗袋后加铅垫板C 清除工件周围的杂物D 铅板遮盖工件非透照部分
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考题 单选题与大焦点X射线管相比，小焦点X射线管的优点是（）A 发射的射线穿透能力大B 得到的射线底片清晰度好C 得到的射线底片对比度低D 得到的射线底片黑度高
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考题 单选题小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是：（）A 射线穿透力大B 射线底片清晰度好C 射线底片对比度好D 底片密度高
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考题 单选题使用铅箔增感屏时，应令其与胶片紧贴，这样的优点是（）A 能更好地使射线激发铅箔而产生电子和二次辐射线，对胶片的感光作用增强而减少曝光时间B 更能使铅箔吸收较长波长的辐射线，从而提高底片的质量C 对一次辐射线的增强比对散射线的增强更大，因而底片质量也就提高了D 以上都是
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考题 问答题射线底片的评定对底片质量有哪些基本要求？
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考题 多选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）A窗口B试件前面C试件边缘D试件背面
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