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判断题
双向斜测时,两探头高差越大,缺陷定位越准确。
A

B


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考题 用不同角度的探头对同一缺陷探测时,所得缺陷的深度是不同的。 ( )此题为判断题(对,错)。

考题 望远镜的放大率越大计算的高差越准确。

考题 双向斜测时,两探头高差越大,缺陷定位越准确。

考题 下面有关AVG曲线的说法中那种说法是对的()A、缺陷越大,AVG曲线越适用B、越接近探头的区域,AVG曲线越准确C、从AVG曲线上确定的缺陷当量与实际缺陷完全一致D、在AVG曲线上,由于探头附近的种种干扰,限制了这一距离内的缺陷回波的辩认或评定, 因而存在最小可测距离的限制

考题 探头声场指向性强而缺陷回波指向性不强时,缺陷定位比较准确

考题 判断题电压表的内阻越大,所产生的误差越小,准确度越高,测量的越准确。A 对B 错

考题 判断题投影差的大小与地面点对基准面的高差成正比,高差越大投影误差越大。A 对B 错

考题 判断题检测小型工件时,为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。A 对B 错

考题 判断题接触线坡度是指两定位点间接触线的高差。A 对B 错

考题 判断题用不同角度的探头对同一缺陷探测时,所得缺陷的深度是不同的。A 对B 错

考题 填空题双向斜测时,两探头高差越(),缺陷定位越()。

考题 判断题缺陷的深宽比越大,漏磁场越大,缺陷越容易检出。A 对B 错

考题 判断题开口型双排脚手架的两端不须设置横向斜撑。()A 对B 错

考题 判断题横波斜探头检测时,受分辨力的影响,焊缝中的近表面缺陷不易检出。A 对B 错

考题 判断题超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的,两者的区别主要在探头的数量。A 对B 错

考题 判断题缺陷尺寸越大,声发射源的综合等级越严重。A 对B 错

考题 判断题超声波探伤拭块的作用是检验仪器和探头的组合性能,确定灵敏度,缺陷定位和缺陷定量。A 对B 错

考题 判断题所建的运输模型越准确,越接近现实问题,则求解它所需的时间和费用就越大A 对B 错

考题 判断题投影差的大小与地面点对基准面T0的高差成正比,高差越大投影误差越大。A 对B 错

考题 判断题在称量过程,称量值越大,误差越大,准确度也越差。A 对B 错

考题 判断题望远镜的放大率越大计算的高差越准确。A 对B 错

考题 判断题预测分析的项目数量越大越准确。A 对B 错

考题 判断题使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应用正反两个方向扫查。A 对B 错

考题 判断题使用斜探头对轴类锻件作园柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查。A 对B 错

考题 判断题测量的相对误差越大,测量结果的准确性越低。A 对B 错

考题 单选题下面有关AVG曲线的说法中那种说法是对的()A 缺陷越大,AVG曲线越适用B 越接近探头的区域,AVG曲线越准确C 从AVG曲线上确定的缺陷当量与实际缺陷完全一致D 在AVG曲线上,由于探头附近的种种干扰,限制了这一距离内的缺陷回波的辩认或评定, 因而存在最小可测距离的限制

考题 判断题渗透剂的临界厚度越小,着色(荧光)强度就越大,缺陷越易于发现。A 对B 错