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题目内容
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判断题
缺陷的深宽比越大,漏磁场越大,缺陷越容易检出。
A
对
B
错
参考答案
参考解析
解析:
暂无解析
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考题
当射源(或焦点)尺寸一定时,被透工件的缺陷尺寸越小,则()A、影像放大率Mf数越小,因而缺陷越难发现B、影像放大率Mf数越大,而缺陷越难观察C、形状修正系数σ越大,因而缺陷检出率越低D、以上都不是
考题
以下关于漏磁场的叙述中,错误的是()A、缺陷方向与磁力线平行时,漏磁场最大B、漏磁场的大小与工件的材质无关C、漏磁场的大小与缺陷的深宽比有关D、工件表层下缺陷所产生的漏磁场,随缺陷的埋藏深度增加而增大
考题
下面关于漏磁场的描述中,正确的是()A、与缺陷的深宽比有关B、内部缺陷所产生的漏磁场随缺陷埋藏深度的增加而加大C、漏磁场随着工件内磁感应强度的增加而减小D、缺陷平行于磁场方向时漏磁场最小E、A和D是对的
考题
单选题下面关于漏磁场的描述中,正确的是()A
与缺陷的深宽比有关B
内部缺陷所产生的漏磁场随缺陷埋藏深度的增加而加大C
漏磁场随着工件内磁感应强度的增加而减小D
缺陷平行于磁场方向时漏磁场最小E
A和D是对的
考题
单选题当射源(或焦点)尺寸一定时,被透工件的缺陷尺寸越小,则()A
影像放大率Mf数越小,因而缺陷越难发现B
影像放大率Mf数越大,而缺陷越难观察C
形状修正系数σ越大,因而缺陷检出率越低D
以上都不是
考题
多选题以下关于漏磁场的叙述中,错误的是()A缺陷方向与磁力线平行时,漏磁场最大B漏磁场的大小与工件的材质无关C漏磁场的大小与缺陷的深宽比有关D工件表层下缺陷所产生的漏磁场,随缺陷的埋藏深度增加而增大
考题
填空题缺陷的高度与宽度之比越小,则缺陷处引起的漏磁场越();缺陷的高度与宽度之比越大,则缺陷处引起的漏磁场越()
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