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单选题
直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度80%时，则后者底面回波应为其（）。
A
5%
B
10%
C
20%
D
40%
参考答案
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解析：
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考题
有一钢工件厚200mm,已知第五次底面回波与第二次底面回波相差9.5dB,材质的衰减系数()。A.0.013dB/mmB.0.0013dB/mmC.0.00013dB/mmD.0.13dB/mm
考题
直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0、004dB/mm，前者底面回波为满幅度的80%时，则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%
考题
偏心压力法与考虑抗扭的偏压修正法，其荷载横向分布影响线的基本区别是()。A、两者均为曲线，但后者的曲率比前者大B、两者均为直线，但后者的斜率比前者小C、前者为直线，后者为曲线D、前者为曲线，后者为直线
考题
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB，两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
考题
直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5DB，材质衰减均为0.004DB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的()A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
考题
直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：（）A、40％B、20％C、10%D、5％
考题
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A、5%B、10%C、20%D、40%
考题
直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度80%时，则后者底面回波应为其（）。A、5%B、10%C、20%D、40%
考题
直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外，•若后者探测面毛糙，•与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100％，则后者的底面回波应为满幅度的（）。A、5％B、10％C、20％D、40％
考题
单选题探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（）A
与探测面平行的大平底面B
R200的凹圆柱底面C
R200的凹球底面D
R200的凸圆柱底面
考题
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A
两个缺陷当量相同B
材质衰减大的锻件中缺陷当量小C
材质衰减小的锻件中缺陷当量小D
以上都不对
考题
单选题直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外，若后者探测面毛糙，与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100％，则后者的底面回波应为满幅度的（）。A
5％B
10％C
20％D
40％
考题
单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A
5%B
10%C
20%D
40%
考题
单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：（）A
40％B
20％C
10%D
5％
考题
单选题一般来说，同一个组合双晶直探头的近表面分辨率和底面分辨率（）A
前者优于后者B
后者优于前者C
前者与后者相同D
两者没有规律
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