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单选题
ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
A

光谱干扰

B

化学干扰

C

电离干扰


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 ICP-AES法测定多元素时,在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,可抑制或消除()。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰

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