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单选题
ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。
A

光谱干扰

B

化学干扰

C

电离干扰

参考答案

参考解析
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考题 光谱分析中的干扰主要包括()干扰,谱线重叠干扰及空白干扰。
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考题 电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。
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考题 ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
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考题 原子吸收干扰中的光谱干扰分（）和背景干扰。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰D、谱线干扰
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考题 原子吸收光谱法是基于从光源辐射出（）的特征谱线，通过样品蒸气时，被蒸气中待测元素的基态原子所吸收，由辐射特征谱线减弱的程度，求出样品中待测元素含量。A、待测元素的分子B、待测元素的离子C、待测元素的电子D、待测元素的基态原子
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考题 原子吸收光谱法是基于从光源辐射出待测元素的特征谱线，通过样品蒸气时，被蒸气中待测元素的（）所吸收，由辐射特征谱线减弱的程度，求出样品中待测元素含量。A、分子B、离子C、激发态原子D、基态原子
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考题 在原子吸收法中，原子化器的分子吸收属于（）。A、光谱线重叠的干扰B、化学干扰C、背景干扰D、物理干扰
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考题 原子吸收光谱法的背景干扰表现为下列哪种形式？（）A、火焰中被测元素发射的谱线；B、火焰中干扰元素发射的谱线；C、火焰产生的非共振线；D、火焰中产生的分子吸收。
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考题 原子吸收分析的定量方法—标准加入法消除了下列哪种干扰？（）A、基体效应B、背景吸收C、光散射D、谱线干扰
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考题 ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰
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考题 当待测元素的分析线与共存元素的吸收线相互重叠，不能分开时，可采用的办法是（）。A、扣除背景B、加入消电离剂C、采用其它分析线D、采用稀释法或标准加入法来排除干扰
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考题 原子吸收分光光度法采用锐线光源是因为（）A、扣除背景吸收B、增加测定灵敏度C、测定被测组分的峰值吸收D、去除谱线干扰
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考题 ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
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考题 ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。
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考题 单选题在原子吸收法中，原子化器的分子吸收属于（）。A 光谱线重叠的干扰B 化学干扰C 背景干扰D 物理干扰
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考题 单选题ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A 光谱干扰B 化学干扰C 电离干扰
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考题 单选题原子吸收分光光度法采用锐线光源是因为（）A 扣除背景吸收B 增加测定灵敏度C 测定被测组分的峰值吸收D 去除谱线干扰
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考题 判断题ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。A 对B 错
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考题 判断题电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。A 对B 错
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考题 单选题原子吸收光度法中的背景干扰表现为下述哪种形式？（）A 火焰中被测元素发射的谱线B 火焰中干扰元素发射的谱线C 光源产生的非共振线D 火焰中产生的分子吸收
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考题 单选题原子吸收分光光度法中的背景干扰表现为哪种形式？（　　）A 火焰中被测元素发射的谱线B 火焰中干扰元素发射的谱线C 火焰中产生的分子吸收D 光源产生的非共振线
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