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判断题
探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。
A

对

B

错

参考答案

参考解析
解析： 暂无解析
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考题 探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。 （ ）此题为判断题(对，错)。
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考题 粗晶材料探伤通常选用的超声频率为（ ）。A.2.5MHzB.1.25MHzC.5MHzD.10MHz
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考题 粗晶材料的探伤可选用()频率的探头A.2.5MHz B.1.25MHz C.5MHz D.10MHz
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考题 为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用()进行探伤A.高频率、横波 B.较低频率、横波 C.高频率、纵波 D.较低频率、纵波
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考题 在探测同一材料时，频率越高则衰减愈大。
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考题 与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件探伤时通常需要使用（）A、频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B、频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C、频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D、频率较低的探头和粘度较低的耦合剂
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考题 以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（）A、灵敏度高B、横向分辨率高C、纵向分辨率高D、探测粗晶材料时信噪比高
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考题 为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用（）进行探伤A、高频率、横波B、较低频率、横波C、高频率、纵波D、较低频率、纵波
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考题 超声波探测粗晶材料时，如果频率相同，穿透力强的波型是（）A、纵波B、横波C、兰姆波D、表面波
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考题 液浸探伤时，采用（）方法可消除探头近场的影响A、提高频率B、合适的水层距离C、大直径探头探测D、聚焦探头探测
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考题 粗晶材料的探伤可选用（）频率的探头A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz
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考题 为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用较低频率和纵波进行探伤。
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考题 在超声波检测中，如果使用的探测频率过高，在探测粗晶材料时会出现（）
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考题 为减小超声波通过介质的衰减，宜采用（）进行探伤。A、 低频率探头B、 高频率探头C、 高于25MHz的探头D、 任意探头
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考题 下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中穿透能力（）。A、用直径较小的探头进行检验B、用频率较低的纵波进行检验C、将接触法检验改为液浸法检验D、将纵波检验改为横波检验
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考题 为减小超声波通过介质量的衰减，宜采用高频率探头进行探伤。
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考题 直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。A、窄脉冲B、衰减C、波型转换D、粗晶
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考题 用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
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考题 探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。
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考题 下列哪种探头可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力（）。A、大直径高频率探头B、小直径高频探头C、大直径低频率探头D、以上A和B
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考题 （）是由于在探测衰减小的材料时，使用过高的重复频率，在检查大锻件时容易出现的情况。
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考题 单选题下列哪种探头可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力（）。A 大直径高频率探头B 小直径高频探头C 大直径低频率探头D 以上A和B
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考题 单选题与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件探伤时通常需要使用（）A 频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B 频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C 频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D 频率较低的探头和粘度较低的耦合剂
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考题 判断题为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用较低频率和纵波进行探伤。A 对B 错
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考题 单选题以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（）A 灵敏度高B 横向分辨率高C 纵向分辨率高D 探测粗晶材料时信噪比高
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考题 单选题超声波探测粗晶材料时，如果频率相同，穿透力强的波型是（）A 纵波B 横波C 兰姆波D 表面波
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考题 单选题为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用（）进行探伤A 高频率、横波B 较低频率、横波C 高频率、纵波D 较低频率、纵波
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