考题
探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。 （ ）此题为判断题(对，错)。
考题
在直接接触法探伤时,若仪器的重复频率调得过高,将会产生()
A、扫描线变暗B、时基线变形C、始脉冲消失D、示波屏上出现幻象
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪的”重复频率“调得过高，可能发生()A.荧光屏”噪声“信号过高
B.时基线倾斜
C.始脉冲消失
D.容易出现“幻象波”
考题
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）A、荧光屏"噪声"信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现"幻象波"
考题
频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
考题
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A、 荧光屏“噪声”信号过高B、 时基线倾斜C、 始脉冲消失D、 容易出现“幻像波”
考题
在钢锻件探伤中，脉冲重复频率太高是产生幻象波的重要原因之一
考题
长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对
考题
在超声波检测中，如果使用的探测频率过高，在探测粗晶材料时会出现（）
考题
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生“幻像波”。
考题
探伤时幻象信号的产生是由于（）。A、发射电压过高B、重复频率过高C、放大增益过高D、发射电压过低
考题
若仪器重复频率过高，扫描时示波屏上将会出现（）。
考题
在直接接触法探伤时，若仪器的重复频率调得过高，将会产生（）。A、扫描线变暗B、时基线变形C、始脉冲消失D、示波屏上出现幻像波
考题
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
考题
探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A、荧光屏“噪声”信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现“幻像波”
考题
探伤时幻象信号的产生是由于（）A、发射电压过高B、重复频率过高C、放大增益过高
考题
填空题频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
考题
判断题探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。A
对B
错
考题
单选题锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
单选题锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
填空题频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
考题
单选题探伤时幻象信号的产生是由于（）A
发射电压过高B
重复频率过高C
放大增益过高