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单选题
屏/片系统调制传递函数的测试方法是( )。
A
方波测试卡曝光——微密度计扫描法
B
狭缝曝光——微密度计扫描法
C
刃边曝光——微密度计扫描法
D
感光仪曝光——微密度计扫描法
E
时间阶段曝光法——微密度计扫描法
参考答案
参考解析
解析:
在实际临床应用中以方波测试卡照射——微密度计扫描方法简单易行。最初得到的是方波响应函数,加以修正后最终取得正弦波响应函数(MTF)。
在实际临床应用中以方波测试卡照射——微密度计扫描方法简单易行。最初得到的是方波响应函数,加以修正后最终取得正弦波响应函数(MTF)。
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考题
关于方波模板测定的MTF理解,正确的是A.方波测试卡用铅、金、白金等重金属制作B.测试中峰、谷密度值要通过特性曲线变换成有效曝光量C.方波测试卡是平行排列的金属细线D.方波测试响应函数等于MTFE.须使用显微密度计测定
考题
屏一片系统调制传递函数的测试方法是A.方波测试卡曝光,微密度计扫描法B.狭缝曝光,微密度计扫描法C.刃边曝光,微密度计扫描法D.感光仪曝光,微密度计扫描法E.时间阶段曝光法,微密度计扫描法
考题
屏/片系统调制传递函数的测试方法是A.方波测试卡曝光/微密度计扫描法
B.狭缝曝光/微密度计扫描法
C.刃边曝光/微密度计扫描法
D.感光仪曝光/微密度计扫描法
E.时间阶段曝光法/微密度计扫描法
考题
X线阶段曝光测定法的叙述,错误的是()。A、时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量B、时间阶段曝光法X线质固定C、自举法用铝梯厚度改变X线强度D、铝梯下加一层0.5mm厚的铅片E、存在间歇效应的影响
考题
单选题X线阶段曝光测定法的叙述,错误的是()。A
时间阶段曝光法改变曝光时间取得照射量B
时间阶段曝光法X线质固定C
自举法用铝梯厚度改变X线强度D
铝梯下加一层0.5mm厚的铅片E
存在间歇效应的影响
考题
单选题屏/片系统调制传递函数的测试方法是( )。A
方波测试卡曝光——微密度计扫描法B
狭缝曝光——微密度计扫描法C
刃边曝光——微密度计扫描法D
感光仪曝光——微密度计扫描法E
时间阶段曝光法——微密度计扫描法
考题
单选题根据X线强度与距离平方成反比定律进行感光测定的方法是()A
自举法B
距离法C
感光仪测定法D
时间阶段曝光法E
铝梯定量测定法
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