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单选题
低应变法中电磁式稳态激振器的扫频范围为（）。
A

10～1000Hz

B

10～1500Hz

C

10～2000Hz

D

10～2500Hz

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考题 DT测试过程中,TEMS手机在扫频的工作模式下,下面()设置的情况下,被扫频的“频率集合”是动态变化的。 A.扫频所有频道B.扫频指定半径内的频率集C.扫频指定手机的邻频D.扫频指定的频率集合
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考题 低应变法的有效检测桩长范围应通过现场试验确定。
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考题 低应变法中电磁式稳态激振器的扫频范围为（）。A、10～1000HzB、10～1500HzC、10～2000HzD、10～2500Hz
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考题 如果扫频测试时候，输入信号太强，我们可以调整扫频仪器的（） A、频率范围B、衰减量C、分辨率带宽D、参考电平
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考题 TD-SCDMA通常采用的频段：2010－2025 M。实际扫频时，扫频范围根据客户准备申请的频点或正在使用的频点调整。以目标频点为中心，前后各扫多少M带宽的一段频谱（）A、1.4B、1.5C、1.6D、1.8
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考题 在核磁共振波谱中，如果一组1H受到核外电子的屏蔽效应较小，则它的共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A、扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B、扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C、扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D、扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
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考题 1H核磁共振波谱分析中，受到屏蔽效应小的一组H核，其共振信号将出现在（）。A、扫频下的高频，扫场下的高场，化学位移δ值较小B、扫频下的高频，扫场下的低场，化学位移δ值较大
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考题 共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A、扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B、扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C、扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D、扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
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考题 对扫频仪测试项目的设置，如频段范围、LTE信道扫描频点号等，都是在哪个菜单中完成？（）A、PropertiesB、HardwareC、SequencerD、DataItems
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考题 稳态激振施力的方式是（）A、用力棒B、用锤击C、用电磁激振器D、用电极高压放电
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考题 电磁式激振器的工作原理就是通过一个偏心轮产生的离心力给结构施加简谐荷载。
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考题 低应变法的有效检测桩长范围应通过（）确定。
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考题 稳态机械阻抗法的激振设备包括（）、（）、及扫频范围为（）Hz的电磁式激振器。
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考题 用来扫频的常用仪表是扫频仪；用来测经纬度的仪表为GPS。
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考题 稳态机械阻抗法的激振设备包括：（）。A、力棒与锤垫B、装有力传感器的力锤C、扫频信号发生器D、功率放大器E、电磁式激振器
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考题 稳态激振设备应包括激振力可调、扫频范围为（）的电磁式稳态激振器A、10～2000HzB、10～1500HzC、100～2000HzD、100～1500Hz
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考题 单选题如果扫频测试时候，输入信号太强，我们可以调整扫频仪器的（）A 频率范围B 衰减量C 分辨率带宽D 参考电平
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考题 问答题简述电磁式激振器的工作原理
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考题 判断题低应变法的有效检测桩长范围应通过现场试验确定。A 对B 错
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考题 单选题在正弦扫频试验中，规定扫频范围在（）之间来回扫频。A 2～80HzB 3～80HzC 3～100HzD 2～100Hz
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考题 单选题TD-SCDMA通常采用的频段：2010－2025 M。实际扫频时，扫频范围根据客户准备申请的频点或正在使用的频点调整。以目标频点为中心，前后各扫多少M带宽的一段频谱（）A 1.4B 1.5C 1.6D 1.8
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考题 填空题低应变法的有效检测桩长范围应通过（）确定。
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考题 填空题稳态机械阻抗法的激振设备包括（）、（）、及扫频范围为（）Hz的电磁式激振器。
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考题 多选题稳态机械阻抗法的激振设备包括：（）。A力棒与锤垫B装有力传感器的力锤C扫频信号发生器D功率放大器E电磁式激振器
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考题 单选题共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A 扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B 扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C 扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D 扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
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考题 单选题稳态激振设备应包括激振力可调、扫频范围为（）的电磁式稳态激振器A 10～2000HzB 10～1500HzC 100～2000HzD 100～1500Hz
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考题 填空题电磁式激振器比偏心式激振器的激振力范围（），频率范围（）。
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