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题目内容
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单选题
用CPI探针在牙根面探及软的或皮革样的损害属于哪项诊断标准()
A
冠龋的诊断标准
B
牙周病流行病学诊断标准
C
牙髓炎诊断标准
D
氟牙症诊断标准
E
根龋的诊断标准
参考答案
参考解析
解析:
根龋的诊断标准:用CPI探针在牙根面探及软的或皮革样的损害即为根龋。牙周病流行病学诊断标准:WHO推荐使用CPI指数,判断牙龈出血、牙石积聚和牙周袋深度。WHO推荐的氟牙症诊断标准:为Dean指数,以釉质表面光泽度、颜色改变程度、缺损程度和侵犯面积作为依据。
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考题
下列关于CPI探针检查方法的描述中,不恰当的是A、探诊为主,结合视诊B、探针与牙长轴平行,紧贴牙根C、沿龈沟从远中向近中移动,作上下短距离的颤动D、探诊时所用的力不超过30gE、探针轻缓地插入龈沟或牙周袋内
考题
关于牙周探诊,叙述不正确的是A.使用Nabers探针检查根分叉病变B.探诊时用改良握笔式握持探针C.探诊力量为30~35gD.牙周探针应与牙体长轴平行E.探针的粗细及形状影响探诊的准确性
考题
世界卫生组织确定的根龋诊断标准是A.牙根面上着色的不平坦区B.底部发软的病损、釉质潜在损害或沟壁软化者C.CPI探针在根面探及软的或皮革样损害D.牙根面上出现的硬的凹陷E.牙根面上探诊时出现疼痛即可诊断为根面龋
考题
根龋的诊断标准为( )A.牙面出现白斑B.用CPI探针探到软化洞底C.用CPI探针探到牙釉质下破坏D.用CPI探针在牙根面探及软的或皮革样的损害E.用CPI探针探到牙的点隙窝沟有明显龋洞
考题
冠龋的诊断标准是( )A.用CPI探针探到牙的点隙窝沟或光滑面有明显龋洞、釉质下破坏,或可探到软化洞底或壁底B.用CPI探针在牙根面探及软的或皮革样的损害C.牙龈的出血状况、牙石集聚多少D.牙周袋的深度及牙槽骨的吸收量E.釉质表面光泽度、颜色改变程度、缺损程度和侵犯面积
考题
根龋的诊断标准是( )A.用CPI探针探到牙的点隙窝沟有明显龋洞B.用CPI探针探到牙的光滑面有明显龋洞C.用CPI探针探到牙的根面有牙石D.用CPI探针在牙根面探及皮革样损害E.用CPI探针探测牙龈自动出血
考题
关于牙周探针和牙周探诊的描述正确的有
A、牙周探针带刻度,每刻度为1mm或2~3mmB、轻柔的探诊压力也会使探针穿透部分结合上皮,使组织学的真正深度略大于探诊深度C、在测量牙周袋时,牙周探针尖始终紧贴牙周袋壁D、探测牙周袋时,牙周探针应与牙长轴平行,探测邻面时,不允许探针向邻面中央倾斜E、在探诊时,支点要稳,用力不可过大
考题
世界卫生组织确定的根龋诊断标准是A.CPI探针在根面探及软的或皮革样损害
B.中到重度氟牙症所造成的牙釉质上硬的凹陷
C.探诊时疼痛的龋损
D.底部发软的病损、釉质潜在损害或沟壁软化者
E.牙釉质上的白斑、着色的不平坦区
考题
世界卫生组织确定的根龋诊断标准是()A、牙釉质上的白斑、着色的不平坦区B、底部发软的病损、釉质潜在损害或沟壁软化者C、CPI探针在根面探及软的或皮革样损害D、中到重度氟牙症所造成的牙釉质上硬的凹陷E、探诊时疼痛的龋损
考题
单选题世界卫生组织确定的根龋诊断标准是()A
牙釉质上的白斑、着色的不平坦区B
底部发软的病损、釉质潜在损害或沟壁软化者C
CPI探针在根面探及软的或皮革样损害D
中到重度氟牙症所造成的牙釉质上硬的凹陷E
探诊时疼痛的龋损
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