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判断题
直探头的近场区成为不可探测区,需用双芯片直探头进行探测。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 合金钢辙叉心轨必须用()探头进行探伤,如探测面磨耗严重影响探测时必须手持探头进行校对探伤。A、斜70°B、直70°C、37°D、0°和小角度

考题 通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。 A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能

考题 直探头主要用于探测()的缺陷。

考题 轴类锻件最主要探测方向是:()A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤

考题 通常所称的流动缺陷回波是指用直探头探测到的。

考题 与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是()A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法

考题 双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,覆盖区愈大。

考题 饼类锻件最主要探测方向是()A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测

考题 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适合用的方法是()A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列双斜探头

考题 用直探头探测焊缝两侧母材的目的是()A、探测热影响区裂缝B、探测可能影响斜探头探测结果的分层C、提高焊缝两侧母材验收标准,以保证焊缝质量D、以上都对

考题 直探头的近场区成为不可探测区,需用双芯片直探头进行探测。

考题 接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

考题 直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面()的缺陷。

考题 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是()。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列斜探头

考题 直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。

考题 以下哪种探测方法不适宜T型焊缝()。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测

考题 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是()。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列双斜探头

考题 通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头

考题 单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A 联合双探头B 普通直探头C 表面波探头D 横波斜探头

考题 判断题直探头的近场区成为不可探测区,需用双芯片直探头进行探测。A 对B 错

考题 单选题以下哪种探测方法不适宜T型焊缝()。A 直探头在翼板上扫查探测B 斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C 直探头在腹板上扫查探测D 斜探头在腹板上扫查探测

考题 单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适合用的方法是()A 聚焦探头B 直探头C 斜探头D 串列双斜探头

考题 判断题双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,复盖区愈大。A 对B 错

考题 单选题饼类锻件最主要探测方向是:()A 直探头端面探伤B 直探头侧面探伤C 斜探头端面探伤D 斜探头侧面探伤

考题 单选题轴类锻件最主要探测方向是:()A 轴向直探头探伤B 径向直探头探伤C 斜探头外圆面轴向探伤D 斜探头外圆面周向探伤

考题 单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是()。A 聚焦探头B 直探头C 斜探头D 串列双斜探头

考题 单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()A 单斜探头法B 单直探头法C 双斜探头前后串列法D 分割式双直探头法

考题 单选题以下哪一种探测方法不适宜T型焊缝()A 直探头在翼板上扫查探测B 斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C 直探头在腹板上扫查探测D 斜探头在腹板上扫查探测