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多选题
可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是(  )。
A

环境应力筛选试验

B

可靠性鉴定试验

C

产品性能试验

D

可靠性验收试验

E

可靠性增长试验


参考答案

参考解析
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考题 可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是( )。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.产品性能试验D.可靠性验收试验E.可靠性增长试验

考题 可靠性鉴定试验是一种( )试验。A.工程试验B.性能试验C.统计试验D.环境试验

考题 可靠性试验可分为工程试验和( )。A.统计试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性验收试验D.可靠性增长试验

考题 可靠性鉴定试验的目的是( )。A.为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B.为环境应力筛选试验作准备C.为进行可靠性增长试验服务D.对可靠性验收试验进行鉴定

考题 可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平,方法是投入若干产品进行寿命试验,可分为( )。 A.可靠性增长试验 B.定时截尾试验 C.恒定应力加速寿命试验 D.定数截尾试验 E.环境应力试验

考题 关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。 A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障 B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性 C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验 D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验 E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

考题 某公司在开发一种新的电子产品时,决定开展系统的可靠性工作,以提高产品的固有可靠性,公司成立以可靠性工程师为组长的项目可靠性小组,小组经过调查研究拟定了项目可靠性工作计划,请对涉及计划的下述内容进行分析和判断,回答相应的问题。 可开展的可靠性试验包括( )。 A.产品功能试验 B.环境应力筛选试验 C.可靠性增长试验 D.可靠性鉴定试验

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。 A.环境应力筛选试验 B.可靠性鉴定试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性验收试验

考题 可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( ) A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验

考题 可靠性鉴定试验的目的是( )。 A.验证所研发产品可靠性是否满足规定的可靠性要求 B.为可靠性增长试验服务 C.为环境应力筛选作准备 D.为加速寿命试验提供依据

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。 A.环境应力试验 B.可靠性增长试验 C.可靠性鉴定试验 D.可靠性验收试验 E.可靠性测定试验

考题 可靠性鉴定试验是一种( )。 A.工程试验 B.性能试验 C.统计试验 D.环境试验

考题 可靠性鉴定试验是一种()试验A、工程试验B、性能试验C、统计试验D、环境试验

考题 关于可靠性增长试验条件的错误说法是()。A、试验前不必制定可靠性增长试验大纲,不用试验前准备工作评审。B、剖面一般应与该产品的可靠性鉴定试验剖面一致。C、同一批产品通过性能试验与环境试验。D、受试产品应经过环境应力筛选。

考题 关于环境应力筛选与可靠性统计试验关系的正确说法有()。A、环境应力筛选是可靠性统计试验的预处理工艺B、任何提交用于可靠性统计试验的样本必须经过环境应力筛选C、先进行可靠性统计试验,后进行环境应力筛选D、不进行环境应力筛选,直接进行可靠性统计试验

考题 通过在产品上施加一定的环境应力,以剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的产品早期故障的一种方法或工序是()。A、可靠性鉴定试验B、环境应力筛选C、可靠性验收试验D、可靠性增长试验

考题 可靠性增长试验的相关问题有()。A、可靠性增长试验的适用范围B、可靠性增长试验对受试产品的要求C、可靠性增长试验的选择D、可靠性增长试验与可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系E、可靠性增长试验的随机性

考题 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

考题 单选题在一定的环境应力下,为暴露产品的薄弱环节,同时证明改进可靠性的措施是否有效而进行的再现实验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 环境应力筛选试验D 可靠性增长试验

考题 多选题可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括(  )。A环境应力试验B可靠性增长试验C可靠性鉴定试验D可靠性验收试验E可靠性测定试验

考题 单选题可靠性鉴定试验的目的是(  )。A 为了验证开发的产品可靠性是否与规定的可靠性要求一致B 为环境应力筛选试验作准备C 为进行可靠性增长试验服务D 对可靠性验收试验进行鉴定

考题 单选题可靠性鉴定试验是一种(  )。A 工程试验B 性能试验C 统计试验D 环境试验

考题 单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收实验D 环境应力筛选试验

考题 多选题可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平,方法是投入若干产品进行寿命试验,可分为(  )。A可靠性增长试验B定时截尾试验C恒定应力加速寿命试验D定数截尾试验E环境应力试验

考题 单选题可靠性试验可分为工程试验和(  )。A 统计试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收试验D 可靠性增长试验

考题 单选题可靠性鉴定试验是一种()试验A 工程试验B 性能试验C 统计试验D 环境试验

考题 多选题可开展的可靠性试验包括(  )。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验