考题
比较开环、闭环、半闭环数控机床在位置检测装置、控制精度和应用领域上的不同。
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。
A、全闭环B、半闭环C、开环
考题
按照伺服驱动系统控制方式的不同，可将数控机床分为()。A．半闭环控制数控机床B．开环控制数控机床C．半开环控制数控机床D．闭环控制数控机床E．半开半闭环控制数控机床
考题
在工作台上安装有位置检测装置的数控机床,按其控制方式属于()。
A、闭环控制数控机床B、开环控制数控机床C、半闭环控制数控机床D、直线控制数控机床
考题
将位置检测装置安装在机床的工作台上的数控机床属于（ ）数控机床。A．开环控制B．开环补偿型控制C．半闭环控制D．闭环控制
考题
将位置检测装置安装在机床的工作台上的数控机床属于()数控机床。A:开环控制
B:开环补偿型控制
C:半闭环控制
D:闭环控制
考题
数控机床的半闭环伺服系统中，用于角位移的检测元件通常有（）、（）、（）和（）。
考题
旋转变压器用于（）控制系统的数控机床。A、闭环B、半闭环C、开环D、半开环
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
考题
开环控制系统用于（）样的机床。A、经济开环—无检测装置B、标准闭环—光栅尺C、精密半闭环—回转式D、加工中心闭环—光栅尺
考题
数控车床操作在开环和半闭环数控机床上，定位精度主要取决于进给丝杠的精度。（）
考题
数控机床按控制系统的特点可分为开环、闭环和半闭环系统。（）
考题
脉冲编码器用于（）控制系统的数控机床。A、闭环B、半闭环C、开环D、半开环
考题
（）控制数控机床检测装置在电机轴端。A、开环B、闭环C、半闭环D、全闭环
考题
如果数控机床进给系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、开环B、半闭环C、半开半闭D、环全闭环
考题
磁栅用于（）控制系统的数控机床。A、闭环B、半闭环C、开环D、半开环
考题
（）控制伺服系统，适用于简易或经济型数控机床A、开环B、闭环C、半开环D、半闭环
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链
考题
（）是数控车床加工螺纹时必不可少的检测元件，常用于半闭环和开环控制的数控机床上。
考题
关于伺服控制下列说法中错误的是（）A、闭环系统的精度最高B、开环系统一般采用步进电机驱动C、闭环和半闭环系统都有位置检测元件D、半闭环系统的检测元件安装在传动链的最终执行部件上
考题
数控机床的控制方式可分为开环控制、半闭环控制和全闭环控制。
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环
考题
单选题关于伺服控制下列说法中错误的是（）A
闭环系统的精度最高B
开环系统一般采用步进电机驱动C
闭环和半闭环系统都有位置检测元件D
半闭环系统的检测元件安装在传动链的最终执行部件上
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环D
以上皆可
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A
全闭环B
半闭环C
开环D
传动链
考题
问答题开环控制数控机床、半闭环控制数控机床及闭环控制数控机床的概念及特点？
考题
问答题简述开环控制数控机床、半闭环控制数控机床及闭环控制数控机床的概念及特点。