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单选题
在下列方法中,适合于粗晶材料探伤的是()
A

采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤

B

将接触法探伤改为液浸法探伤

C

采用小直径探头探伤

D

以上都是


参考答案

参考解析
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考题 采用直探头探伤时,荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是( )。A、细晶组织B、耦合剂不清洁C、表面粗糙D、粗晶组织

考题 粗晶材料探伤通常选用的超声频率为( )。A.2.5MHzB.1.25MHzC.5MHzD.10MHz

考题 常用的焊缝无损检测方法中,适合于焊缝内部缺陷检测的方法是( )。A.射线探伤B.涡流探伤C.磁性探伤D.渗透探伤

考题 粗晶材料的探伤可选用()频率的探头A.2.5MHz B.1.25MHz C.5MHz D.10MHz

考题 常用的焊缝无损检测方法中,适合于焊缝内部缺陷检测的方法是( )。2013 A.射线探伤B.涡流探伤C.磁性探伤D.渗透探伤

考题 常用的焊缝无损检测方法中,适合于焊缝内部缺陷检测的方法是()。 2013年A . 射线探伤 B . 涡流探伤 C . 磁性探伤 D . 渗透探伤

考题 (2013年真题)常用的焊缝无损检测方法中,适合于焊缝内部缺陷检测的方法是( )A.射线探伤 B.涡流探伤 C.磁性探伤 D.渗透探伤

考题 适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法有()。 A、射线探伤 B、超声波探伤 C、渗透探伤 D、磁性探伤 E、涡流探伤

考题 下列焊缝质量检测方法中,适合于检测焊缝表面缺陷的方法有( )。A.射线探伤 B.超声波探伤 C.渗透探伤 D.磁性探伤E.:光谱分析

考题 适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法是( )。 A.射线探伤 B.磁粉探伤 C.超声探伤 D.涡流探伤 E.渗透探伤

考题 适合于磁粉探伤的材料是()A、顺磁性材料B、有色金属C、铁磁性材料D、抗磁性材料

考题 热裂纹产生的主要原因是熔池在结晶过程中存在()。A、淬硬组织B、低熔点共晶和杂质C、粗晶D、淬硬组织和粗晶

考题 在下列方法中,适合于粗晶材料探伤的是()A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是

考题 在同频率下,粗晶材料中()波穿透能力最大。

考题 粗晶材料的探伤可选用()频率的探头A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz

考题 下列哪一处无损探伤方法对探险测非铁性金属的晶界腐蚀最有效?()A、光谱检查。B、X光探伤。C、磁力探伤。D、涡流探伤。

考题 在超声波检测中,如果使用的探测频率过高,在探测粗晶材料时会出现()

考题 用频率较高的横波进行探伤可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力。

考题 GB/T4162-2008检验方法不适用于奥氏体粗晶钢棒的超声波探伤

考题 在常用的五种探伤方法中,()探伤只能检查铁磁性材料。A、射线B、磁粉C、渗透D、涡流

考题 常用的焊缝无损检测方法中,适合于焊缝内部缺陷检测的方法是()。A、射线探伤B、涡流探伤C、磁性探伤D、渗透探伤

考题 粗晶材料探伤通常选用的超声频率为()。A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz

考题 粗晶探伤应选用高频探头。

考题 单选题适合于磁粉探伤的材料是()A 顺磁性材料B 有色金属C 铁磁性材料D 抗磁性材料

考题 单选题在下列方法中,适合于粗晶材料探伤的是()A 采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B 将接触法探伤改为液浸法探伤C 采用小直径探头探伤D 以上都是

考题 多选题适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法是()。A射线探伤B磁粉探伤C超声探伤D涡流探伤E渗透探伤

考题 单选题根据其颗粒的绝对大小可划分为:()A 等粒变晶结构;不等粒变晶结构;斑状变晶结构B 粗粒变晶结构;中粒变晶结构;细粒变晶结构。C 极粗粒变晶结构;粗粒变晶结构;中粒变晶结构;细粒变晶结构。D 粗粒变晶结构;中粒变晶结构;细粒变晶结构;微粒变晶结构。

考题 单选题常用的焊缝无损检测方法中,适合于焊缝内部缺陷检测的方法是()A 射线探伤B 涡流探伤C 磁性探伤D 渗透探伤