考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A、阳光干扰B、轴温高C、轴温低D、探头异常
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A、半自动B、自动C、手动D、固定曲线E、线性折算
考题
THDS-A（哈科所）探测站的热敏直流探头静态电压值约为1V，轴温与板温相同时探头输出电压值约为（）。A、1VB、-10VC、0VD、都有可能
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统如果报元温故障正确的解决办法是（）。A、直接更换探头B、更换探头温控板C、左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头D、以上都不对
考题
THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A探测站不包括下列的设备是（）A、探测站主机箱B、车轮传感器C、直流光子探头D、直流热敏探头
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A半自动B自动C手动D固定曲线E线性折算
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A
阳光干扰B
轴温高C
轴温低D
探头异常
考题
单选题THDS-A探测站不包括下列的设备是（）A
探测站主机箱B
车轮传感器C
直流光子探头D
直流热敏探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站用示波器测量探头噪声时，光子探头噪声≥（）时需更换。A
100mVB
95mVC
90mVD
80mV
考题
单选题THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A探头故障B探头电源波动C探头电缆接触不良D板温读取错误E环温读取错误
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的热敏直流探头静态电压值约为1V，轴温与板温相同时探头输出电压值约为（）。A
1VB
-10VC
0VD
都有可能
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站标准配置下探头位置是（）。A
内光子、外热敏B
内热敏、外光子C
双热敏D
双光子
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A探头出现问题B无法正确测曲线C环温出现异常D影响轴温测温精度E不影响轴温测温精度