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单选题
测微螺杆突缘与微分筒压紧式对零结构的千分尺压离线的修理方法有（）A、冲挤法和修磨微分筒后端面法
A

B、冲挤法和加垫法

B

C、修磨微分筒后端面法和加垫法

C

D、冲挤法、修磨微分筒后端面法和加垫法

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考题 使用外径千分尺前,应先将校对量杆置于()和测微螺杆之间。 A、测力装置B、定位环C、测砧D、微分筒
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考题 千分尺的固定套筒上刻有间隔为0.5mm的刻线,微分筒圆周上均匀刻有50格。因此,微分筒每转一格时,测微螺杆就移进()mm。
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考题 千分尺调零位方法:用测力装置使量面或量面与标准棒两端面接触,观察微分筒前端面与固定套管零线、微分筒零线与固定套管基线是否重合,如不重合,应通过附带的专用小扳手转动固定套管来进行调整。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管端面的距离,是为了控制()。检定千分尺微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,是为了防止()。
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考题 某外径千分尺测微螺杆的螺距为0.5mm，微分筒边沿用短直线等分成50格，则微分筒每转过十格，读出的尺寸为( )mm。A.0.1B.0.01C.0.5D.0.05
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考题 千分尺的固定套筒上刻有间隔为( )的刻线，微分筒圆周上均有刻有50格。因此微分筒每转一格时，测微螺杆就移进( )
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考题 千分尺压线和离线现象，只能通过改变微分筒与测微螺杆在（）方向上的相对位置来调整A、垂直B、平行C、相同D、轴线
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考题 外径千分尺中测微螺杆的螺距为0.5mm；微分筒每转一周，测微螺杆沿轴线移动0.5mm。微分筒的锥面，由均匀分布的刻线将其分成50格，所以当微分筒每转一小格时，测微螺杆沿轴线移动0.1mm。
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考题 常用千分尺的测微螺杆的螺距为0.5mm，因此，当微分筒旋转一周时，测微螺杆移动0.5mm，微分筒旋转一个分度时（即时/50转），测微螺杆移动0.01mm，故常用千分尺的读数值为（）A、0.5mmB、0.1mmC、0.01mmD、0.05mm
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考题 千分尺测微螺杆上罗纹的螺距为0.5mm，当微分筒转一周时，螺杆移动（）mm；微分筒转1/50周（），螺杆移动（）mm。
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考题 测量前需要将千分尺的（）擦拭干净并检查零位是否正确。A、固定套装B、测量面C、微分筒D、测微螺杆
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考题 测量前需要将千分尺（）擦试干净后检查零位是否正确A、固定套筒B、测量面C、微分筒D、测微螺杆
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考题 测量时，外径千分尺的（）和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪
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考题 千分尺的微分筒转动一格，测微螺杆移动（）。A、1㎜B、0.5㎜C、0.01㎜D、2㎜
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考题 千分尺微分筒转动一周，测微螺杆移动（）mm。A、0.1B、0.01C、1D、0.5
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考题 测微量具的读数机构是由（）组成。A、尺架和测微螺杆B、固定套管和微分筒C、测微螺杆和固定套管D、测微螺杆.微分筒
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考题 使用外径千分尺时，不得强行转动微分筒，要尽量使用（）。A、止动环B、测力装置C、测砧D、测微螺杆
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考题 使用千分尺测量，当微分筒转动一格时，测微螺杆轴向移动0.01mm。
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考题 千分尺的微分筒转一周，其测微螺杆移动0.5mm。
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考题 按被测尺寸调节外径千分尺时，要慢慢的转动微分筒或测力装置，不要握住微分筒子挥动或摇转尺架，以致使精密测微螺杆变形。
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考题 当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
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考题 顶丝固定式千分尺压离线的调修，可旋松固定套筒上的顶丝，移动（）的位置A、固定套筒B、微分筒C、螺杆D、螺母
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考题 千分尺固定套筒上刻有间隔为0.5mm的刻线5，微分筒圆周上均匀刻有50格。微分筒每转一格，测微螺杆就移进（）mm。
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考题 填空题千分尺测微螺杆上罗纹的螺距为0.5mm，当微分筒转一周时，螺杆移动（）mm；微分筒转1/50周（），螺杆移动（）mm。
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考题 填空题当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
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考题 单选题顶丝固定式千分尺压离线的调修，可旋松固定套筒上的顶丝，移动（）的位置A 固定套筒B 微分筒C 螺杆D 螺母
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考题 单选题千分尺压线和离线现象，只能通过改变微分筒与测微螺杆在（）方向上的相对位置来调整A 垂直B 平行C 相同D 轴线
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