考题
测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。
A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线
考题
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管端面的距离,是为了控制()。检定千分尺微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,是为了防止()。
考题
检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离,应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。()
此题为判断题(对，错)。
考题
当零位调整整正确后,微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切,或离线不大于0.1毫米,压线不大于0.05毫米。()
此题为判断题(对，错)。
考题
检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离，应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。
考题
千分尺压线和离线现象，只能通过改变微分筒与测微螺杆在（）方向上的相对位置来调整A、垂直B、平行C、相同D、轴线
考题
千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
考题
千分尺的测量下限调整至正确后，微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置，离线不大于0.1mm或压线不大于（）
考题
测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。
考题
千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
考题
当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
考题
不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
考题
检定千分尺刻线宽度及刻线宽度差，要求固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15±0.05mm，刻线宽度差应不大于（）A、0.04mmB、0.05mmC、0.06mm
考题
当零位调整整正确后，微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切，或离线不大于0.1毫米，压线不大于0.05毫米。
考题
检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）
考题
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
考题
带表卡尺牌零位时，尺框基准端面与尺身零刻线右边缘应相切，压线不大于（），离线不大于（）。指示表针应位于正上方，对尺身导向面的垂直度应不大于（）。
考题
填空题千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
考题
填空题当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
考题
判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。A
对B
错
考题
单选题测微螺杆突缘与微分筒压紧式对零结构的千分尺压离线的修理方法有（）A、冲挤法和修磨微分筒后端面法A
B、冲挤法和加垫法B
C、修磨微分筒后端面法和加垫法C
D、冲挤法、修磨微分筒后端面法和加垫法
考题
填空题检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）
考题
判断题当零位调整整正确后，微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切，或离线不大于0.1毫米，压线不大于0.05毫米。A
对B
错
考题
填空题千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
考题
单选题千分尺压线和离线现象，只能通过改变微分筒与测微螺杆在（）方向上的相对位置来调整A
垂直B
平行C
相同D
轴线
考题
问答题不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
考题
填空题带表卡尺牌零位时，尺框基准端面与尺身零刻线右边缘应相切，压线不大于（），离线不大于（）。指示表针应位于正上方，对尺身导向面的垂直度应不大于（）。