考题
所谓超声波的材质衰减包括了吸收衰减、扩散衰减和散射衰减。
考题
超声波检测条件的主要考虑因素是（）A、工作频率B、探头和仪器参数C、耦合条件与状态D、探测面E、材质衰减F、以上都是
考题
JB3963-85标准规定采用（）法和（）法确定缺陷当量，如材质衰减系数超过（），应在（）时作材质衰减修正
考题
超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是（）。 A、 曲面检测时可减少耦合损失B、 可减少材质衰减损失C、 辐射声能大D、 声束能量
考题
在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不随距离增加而改变。
考题
与超声波频率无关的衰减是（）。A、散射衰减B、扩散衰减C、吸收衰减D、材质衰减
考题
对超声波探伤试块材质的基本要求是（）。A、其声速与被探工件声速基本一致B、材质衰减不大C、材料中没有超过φ2㎜平底孔当量的缺陷D、以上都对
考题
在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波近似看成平面波，其平均声压不变。
考题
改变phone材质的Cosine power属性会对材质有何影响？（）A、改变材质颜色B、改变材质的高光衰减C、改变材质的透明度D、改变材质的高光颜色
考题
用AVG方法进行定量评定时，不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果偏大
考题
对于大多数固体和金属介质来说，通常所说的超声波衰减仅包括（）而不包括扩散衰减。A、声压衰减B、散射衰减和吸收衰减C、能量衰减D、材质衰减
考题
超声波在介质中传播形成衰减的主要原因有（）A、声场扩散B、材质散射C、材料吸收D、上述都对
考题
晶片发射的超声波介于（）与平面波之间的波是活塞波。
考题
圆盘形声源发出的超声波介于球面波和平面波之间，称为（）。
考题
用多次回波法探测复合材料，假如超声波自材质衰减小的材料透入，当粘合面粘结良好时，底面回波次数很。
考题
超声波在介质中传播形成衰减的主要原因有：声场扩散、材质散射和（）。
考题
单选题超声波在介质中传播形成衰减的主要原因有（）A
声场扩散B
材质散射C
材料吸收D
上述都对
考题
判断题所谓超声波的材质衰减包括了吸收衰减、扩散衰减和散射衰减。A
对B
错
考题
判断题超声平面波不存在扩散衰减。A
对B
错
考题
填空题超声波在介质中传播形成衰减的主要原因有：声场扩散、材质散射和（）。
考题
单选题对超声波探伤试块材质的基本要求是（）。A
其声速与被探工件声速基本一致B
材质衰减不大C
材料中没有超过φ2㎜平底孔当量的缺陷D
以上都对
考题
判断题超声平面波不存在材质衰减。A
对B
错
考题
单选题超声波检测条件的主要考虑因素是（）A
工作频率B
探头和仪器参数C
耦合条件与状态D
探测面E
材质衰减F
以上都是
考题
填空题JB3963-85标准规定采用（）法和（）法确定缺陷当量，如材质衰减系数超过（），应在（）时作材质衰减修正
考题
单选题与超声波频率无关的衰减是（）。A
散射衰减B
扩散衰减C
吸收衰减D
材质衰减