考题
与线阵探头相比，环阵探头的优点正确是A.环阵探头无伪像B.环阵探头的声束可全部穿透组织C.环阵探头声束衰减少D.环阵探头在X、Y轴上均聚焦E.环阵探头操作方便
考题
与线阵探头相比，环阵探头的优点是正确A、环阵探头无伪像B、环阵探头的声束可全部穿透组织C、环阵探头声束衰减少D、环阵探头在X、Y轴上均聚焦E、环阵探头操作方便
考题
与线阵探头相比，环阵探头的优点是A．环阵探头无假象B．环阵探头的声束可全部穿透组织C．环阵探头在X，Y轴上均聚焦D．环阵探头声束衰减少E．环阵探头操作方便
考题
测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（）A、声束扩散损失B、耦合损耗C、工件几何形状影响D、以上都是
考题
与线阵探头相比，环阵探头的优点是（）A、环阵探头无假象B、环阵探头的声束可全部穿透组织C、环阵探头在X，Y轴上均聚焦D、环阵探头声束衰减少E、环阵探头操作方便
考题
超声检验中，选用镜片尺寸大的探头的优点是（）A、曲面探伤时可减少耦合损失B、可减少材质衰减损失C、辐射声能大且能量集中D、以上全部
考题
斜探头楔块上部和前部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。
考题
为减少凹面检测时的耦合损耗，通常采用以下方法：（）A、使用高声阻抗耦合剂B、使用软保护膜探头C、减少探头耦合面尺寸D、使用高频率探头
考题
下面有关铸件检测条件选择的叙述中，哪点是正确的？（）。A、 宜选用检测频率5MHzB、 采用透声性好粘度大的耦合剂C、 使用晶片尺寸小的探头D、 以上都对
考题
超声波的半扩散角大，超声能量集中，声束的指向性好，检测灵敏度高，对缺陷定位准确。
考题
对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。
考题
超声波检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（）。A、曲面探伤时减少耦合损失B、减少材质衰减损失C、辐射声能大且能量集中D、以上都是
考题
探头发射的声能聚集而形成声束线聚焦应选用的声透镜为（）。A、圆柱曲面B、球面曲面C、凸面形D、凹面形
考题
探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。
考题
探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。A、增加B、减小C、不变
考题
探头晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中。
考题
单选题测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（）A
声束扩散损失B
耦合损耗C
工件几何形状影响D
以上都是
考题
单选题与线阵探头相比，环阵探头的优点是（）A
环阵探头无假象B
环阵探头的声束可全部穿透组织C
环阵探头在X，Y轴上均聚焦D
环阵探头声束衰减少
考题
单选题下面有关铸件检测条件选择的叙述中，哪点是正确的？（）。A
宜选用检测频率5MHzB
采用透声性好粘度大的耦合剂C
使用晶片尺寸小的探头D
以上都对
考题
单选题超声波检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（）A
曲面探伤时减少耦合损失B
减少材质衰减损失C
辐射声能大且能量集中D
以上都对
考题
判断题探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。A
对B
错
考题
单选题探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。A
增加B
减小C
不变
考题
单选题为减少凹面检测时的耦合损耗，通常采用以下方法：（）A
使用高声阻抗耦合剂B
使用软保护膜探头C
减少探头耦合面尺寸D
使用高频率探头
考题
单选题超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是（）。A
曲面检测时可减少耦合损失B
可减少材质衰减损失C
辐射声能大D
声束能量
考题
判断题对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。A
对B
错
考题
单选题超声检验中，选用镜片尺寸大的探头的优点是（）A
曲面探伤时可减少耦合损失B
可减少材质衰减损失C
辐射声能大且能量集中D
以上全部