考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块B、一块C、二块
考题
用平晶检定千分尺工作面时,如干涉条纹向内跑即为()A、中凹B、中凸C、平面D、波形
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
考题
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
考题
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶,其工作面的平面度不大于()A、0.03umB、0.05umC、0.10um
考题
测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?
考题
对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?
考题
检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A
四块B
一块C
二块
考题
填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
考题
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A
对B
错
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?
考题
填空题外径千分尺测量面平行度,可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时,应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块,其尺寸间隔为测杆的()的四块量块。
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A
平面度B
平行度C
光洁度D
准确度
考题
问答题测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?
考题
单选题新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。A
技术光波干涉法B
比较法C
光隙法